半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200510099803.8
申请日
2005-09-02
公开(公告)号
CN100448026C
公开(公告)日
2006-03-29
发明(设计)人
赫赛恩·I·哈纳菲 爱德华·J·诺瓦克
申请人
申请人地址
美国纽约
IPC主分类号
H01L2978
IPC分类号
H01L29786 H01L21336 H01L2184
代理机构
北京市柳沈律师事务所
代理人
李晓舒;魏晓刚
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
胡志玮 ;
叶腾豪 .
中国专利 :CN111415945B ,2020-07-14
[2]
半导体结构及其形成方法,半导体器件及其形成方法 [P]. 
张全良 ;
刘丽丽 .
中国专利 :CN114068708A ,2022-02-18
[3]
半导体结构及其形成方法,半导体器件及其形成方法 [P]. 
张全良 ;
刘丽丽 .
中国专利 :CN114068708B ,2024-03-22
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
戚德奎 .
中国专利 :CN108630713A ,2018-10-09
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
赵君红 ;
赵海 .
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[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
王楠 .
中国专利 :CN113497139A ,2021-10-12
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
周飞 .
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[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
韩秋华 ;
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[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
纪世良 ;
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张海洋 .
中国专利 :CN114068704B ,2024-03-22
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
金兰 .
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