一种半导体刻蚀清理装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201922419330.5
申请日
2019-12-30
公开(公告)号
CN211295048U
公开(公告)日
2020-08-18
发明(设计)人
毕泽
申请人
申请人地址
213002 江苏省常州市新北区乐山路58号
IPC主分类号
H01L2167
IPC分类号
代理机构
泉州市兴博知识产权代理事务所(普通合伙) 35238
代理人
王成红
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体刻蚀设备和半导体刻蚀方法 [P]. 
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孙文彬 .
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[2]
腔盖及半导体刻蚀装置 [P]. 
不公告发明人 .
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[3]
一种半导体刻蚀装置 [P]. 
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[4]
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[5]
半导体刻蚀设备 [P]. 
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刘家桦 ;
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[8]
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[9]
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[10]
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