一种玻璃基板测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811517669.2

申请日：

2018-12-12

公开(公告)号：

CN109631785A

公开(公告)日：

2019-04-16

发明(设计)人：

王涛强志峰侯静

申请人：

申请人地址：

230000 安徽省合肥市新站区工业园内

IPC主分类号：

G01B1116

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371

代理人：

郭斌莉

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-28	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B 11/16 申请公布日:20190416
2019-04-16	公开	公开
2019-05-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/16 申请日:20181212

共 50 条

[1]

一种玻璃基板研磨段边部测量装置及测量方法 [P].

王喜 .

中国专利 :CN119036249A ,2024-11-29

[2]

一种玻璃基板研磨段边部测量装置及测量方法 [P].

王喜 .

中国专利 :CN118003186A ,2024-05-10

[3]

基板玻璃测量系统及基板玻璃测量方法 [P].

李青 ;

李赫然 ;

任晓金 ;

赵艳军 ;

张桂龙 ;

郑连军 ;

刘志彪 ;

韩双库 ;

侯海波 .

中国专利 :CN114777708B ,2024-07-23

[4]

基板玻璃测量系统及基板玻璃测量方法 [P].

李青 ;

李赫然 ;

任晓金 ;

赵艳军 ;

张桂龙 ;

郑连军 ;

刘志彪 ;

韩双库 ;

侯海波 .

中国专利 :CN114777708A ,2022-07-22

[5]

一种基板玻璃形态测量装置及形态测量方法 [P].

胡凯亮 ;

赵荣 ;

江可 ;

姚慧慧 ;

苏孔勇 ;

兰亮 .

中国专利 :CN121140670A ,2025-12-16

[6]

玻璃基板研磨量测量方法及系统 [P].

李青 ;

支军令 ;

穆美强 ;

苏记华 ;

杜跃武 ;

段华磊 ;

张云晓 ;

李跃鑫 .

中国专利 :CN106903569A ,2017-06-30

[7]

玻璃基板的垂度测量装置及方法 [P].

李志勇 ;

郑权 ;

王丽红 ;

闫冬成 ;

李俊锋 ;

张广涛 .

中国专利 :CN106441189A ,2017-02-22

[8]

基板测量装置以及基板测量方法 [P].

竹田浩之 ;

高桥悌史 ;

河野裕之 .

日本专利 :CN117337390A ,2024-01-02

[9]

基板温度测量装置及基板温度测量方法 [P].

中原健 ;

川崎雅司 ;

大友明 ;

塚崎敦 .

中国专利 :CN101802574A ,2010-08-11

[10]

基板温度测量装置及基板温度测量方法 [P].

朴永秀 ;

孙侐主 ;

朴商弼 ;

柳守烈 ;

金永镐 ;

金学杜 .

中国专利 :CN111089659A ,2020-05-01

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