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材料表面质量检测方法、系统及存储介质

被引：0
申请号：
CN202210935669.4
申请日：
2022-08-05
公开(公告)号：
CN114994062A
公开(公告)日：
2022-09-02
发明(设计)人：
孙瑞
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区粤兴二道10号香港中文大学深圳研究院505B
IPC主分类号：
G01N2188
IPC分类号：
G01B1100
代理机构：
深圳汉林汇融知识产权代理事务所(普通合伙) 44850
代理人：
刘临利
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-09-20 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20220805
2022-09-02 公开 公开
共 50 条
[1]
一种材料表面质量检测方法、系统及存储设备 [P]. 
孙瑞 ;
薛少龙 .
中国专利 :CN113970551A ,2022-01-25
[2]
用于金属拉链的表面质量检测方法及系统 [P]. 
陈佳健 ;
陈佳磊 .
中国专利 :CN117147561B ,2024-03-19
[3]
目标对象表面质量检测方法及装置、系统、设备、介质 [P]. 
温任华 ;
夏雷云 .
中国专利 :CN115170537B ,2025-12-12
[4]
产品质量检测方法、质量检测系统及存储介质 [P]. 
谭卫锋 ;
高斌 .
中国专利 :CN119250616A ,2025-01-03
[5]
飞机表面质量检测方法 [P]. 
刘磊 ;
朱绪胜 ;
陈代鑫 ;
周力 ;
秦琪 ;
马帅 ;
文洲 ;
刘树铜 ;
陈俊佑 .
中国专利 :CN116839512B ,2024-09-10
[6]
瓷砖表面质量检测系统、方法、电子设备及存储介质 [P]. 
张鼎 .
中国专利 :CN114913114A ,2022-08-16
[7]
一种基于图像分析的材料表面质量检测方法 [P]. 
杨超 ;
伍世虔 ;
宋运莲 ;
王欣 ;
张俊勇 ;
张琴 ;
韩浩 ;
陈鹏 .
中国专利 :CN107560567A ,2018-01-09
[8]
晶圆表面质量检测方法和系统、设备、存储介质及计算机程序产品 [P]. 
马荣刚 ;
史晓明 ;
张言彩 ;
杨雷 ;
沈旭东 .
中国专利 :CN119784691A ,2025-04-08
[9]
多晶硅原料表面质量检测方法及检测装置 [P]. 
魏奎先 ;
谭宁 ;
马文会 .
中国专利 :CN117269197B ,2024-02-02
[10]
一种涂层布的表面质量检测方法及系统 [P]. 
高峰 .
中国专利 :CN118706663B ,2025-02-14
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