晶圆表面质量检测方法和系统、设备、存储介质及计算机程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411822577.0

申请日：

2024-12-11

公开(公告)号：

CN119784691A

公开(公告)日：

2025-04-08

发明(设计)人：

马荣刚史晓明张言彩杨雷沈旭东

申请人：

浙江创芯集成电路有限公司

申请人地址：

311200 浙江省杭州市萧山区宁围街道平澜路2118号浙江大学杭州国际科创中心水博园区11幢4层-5层（自主申报）

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/90

代理机构：

上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327

代理人：

严皖金;张雪琴

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241211
2025-04-08	公开	公开

共 50 条

[1]

网络质量检测方法及系统、计算设备、计算机可读存储介质、计算机程序产品 [P].

陈真勇 ;

章琦 ;

熊波 ;

包锋平 ;

沈伟锋 ;

徐伟 ;

叶军 .

中国专利 :CN118337670A ,2024-07-12

[2]

电能检测设备质量检测方法、存储介质及计算机程序产品 [P].

曾烨 ;

王岩 ;

薛现辉 ;

陈道品 ;

黄青沙 ;

邓淑敏 ;

叶雅倩 ;

胡敏 ;

麦洪 ;

王俊波 ;

曾庆辉 ;

刘崧 ;

唐琪 ;

黄静 ;

梁年柏 .

中国专利 :CN118425865A ,2024-08-02

[3]

晶圆检测方法、系统、装置、存储介质、计算机程序产品 [P].

吴志华 ;

高红超 ;

肖昌虎 ;

田桂 .

中国专利 :CN120198355A ,2025-06-24

[4]

工业数据质量检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品 [P].

李士锦 ;

谢朝羽 .

中国专利 :CN118709120B ,2024-11-15

[5]

工业数据质量检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品 [P].

李士锦 ;

谢朝羽 .

中国专利 :CN118709120A ,2024-09-27

[6]

晶圆检测方法、装置、设备、存储介质和计算机程序产品 [P].

黄志贤 ;

张婉 ;

方建智 ;

许凯迪 ;

刘凯文 .

中国专利 :CN115579312A ,2023-01-06

[7]

轮毂质量检测方法、设备、介质及计算机程序产品 [P].

陈彪 ;

黄雪峰 ;

熊海飞 .

中国专利 :CN113421264B ,2021-09-21

[8]

晶圆检测方法、系统、装置、存储介质、计算机程序产品 [P].

高红超 ;

吴志华 ;

肖昌虎 ;

江维 ;

邓永沧 ;

卢盛林 .

中国专利 :CN120198354A ,2025-06-24

[9]

晶圆检测方法、系统、电子设备、存储介质及计算机程序产品 [P].

韩俊伟 .

中国专利 :CN118676014A ,2024-09-20

[10]

晶圆损伤检测方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

陆鑫 ;

郭磊 ;

魏琛 ;

童浩峰 ;

黄春美 ;

桂超 ;

朱振华 ;

李大龙 ;

李逸园 .

中国专利 :CN120431021A ,2025-08-05

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