隔离膜的针孔瑕疵检测系统及其检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310508613.1

申请日：

2013-10-25

公开(公告)号：

CN103698334A

公开(公告)日：

2014-04-02

发明(设计)人：

吴佳霖丘锦勋高志远陈威仰

申请人：

申请人地址：

215121 江苏省苏州市工业园区春辉路13号

IPC主分类号：

G01N2188

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-01-27	授权	授权
2014-04-02	公开	公开
2014-04-30	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 IPC(主分类):G01N 21/88 专利申请号:2013105086131 申请日:20131025 号牌文件序号:101581907300

共 50 条

[1]

瑕疵检测系统及瑕疵检测方法 [P].

胡叶岑 ;

苏啸 ;

倪浩天 ;

陈晓燕 ;

张鑫 .

中国专利 :CN118130473A ,2024-06-04

[2]

一种电容膜瑕疵检测系统及其检测方法 [P].

蒋生华 ;

李健权 ;

金超 ;

蒋瑜慧 ;

王建平 ;

蒋秦峰 ;

吴正 ;

张彪 ;

王亚亭 .

中国专利 :CN120703033A ,2025-09-26

[3]

瑕疵检测系统及制品的瑕疵检测方法 [P].

施宣宇 ;

洪伟杰 ;

刘庭宇 ;

林启豪 ;

宋明光 .

中国专利 :CN113820329A ,2021-12-21

[4]

透光膜的检测系统及其检测方法 [P].

冯兆平 .

中国专利 :CN105444683B ,2016-03-30

[5]

瑕疵检测系统及检测方法 [P].

王文进 ;

甄明吉 ;

王鹏飞 ;

王军舰 ;

王波 ;

姜超 ;

孙智宏 ;

李晓君 .

中国专利 :CN117330577A ,2024-01-02

[6]

瑕疵检测方法、瑕疵分类方法及其系统 [P].

林晏全 .

中国专利 :CN114226262A ,2022-03-25

[7]

基于机器视觉的瑕疵检测装置及膜产品瑕疵检测方法 [P].

葛铭 ;

郑智文 ;

沈井学 ;

李晖 ;

洪翔益 .

中国专利 :CN114740011A ,2022-07-12

[8]

基于机器视觉的瑕疵检测装置及膜产品瑕疵检测方法 [P].

葛铭 ;

郑智文 ;

沈井学 ;

李晖 ;

洪翔益 .

中国专利 :CN114740011B ,2025-06-20

[9]

转子瑕疵检测系统及检测方法 [P].

李建亚 ;

汪小庆 ;

周永志 .

中国专利 :CN118032770A ,2024-05-14

[10]

一种纺织品瑕疵检测的检测方法及其检测系统 [P].

费新琪 .

中国专利 :CN120668686A ,2025-09-19

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