用于过程变量的光学测量的装置和包括该装置的测量设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410374100.0

申请日：

2014-07-31

公开(公告)号：

CN104345051B

公开(公告)日：

2015-02-11

发明(设计)人：

安德烈亚斯·罗贝特罗尼·迈克尔克里斯蒂安·范泽洛

申请人：

申请人地址：

德国盖林根

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

张焕生;谢丽娜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-03-11	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101601519878 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2014103741000 申请日:20140731
2015-02-11	公开	公开
2017-05-10	授权	授权

共 50 条

[1]

用于确定水中的测量变量的光学测量设备 [P].

安德烈亚斯·拜尔 ;

蒂洛·克拉齐穆尔 .

德国专利 :CN120044007A ,2025-05-27

[2]

光学测量设备、折射计和用于光学测量的布置 [P].

J·耶斯凯莱伊宁 ;

H·萨罗 ;

V·吕拉 ;

T·劳塔迈基 .

中国专利 :CN109900637A ,2019-06-18

[3]

光学模块和包括其的光学测量设备 [P].

李晨 ;

李响 .

中国专利 :CN114235703A ,2022-03-25

[4]

光学模块和包括其的光学测量设备 [P].

李晨 ;

李响 .

中国专利 :CN218412229U ,2023-01-31

[5]

过程测量系统对准装置和用于测量过程变量的系统 [P].

约翰·亨利·司泰来氏 ;

保罗·蒂莫西·迪根 ;

戴维·克锐格·温特斯 .

中国专利 :CN204679124U ,2015-09-30

[6]

用于测量过程变量的过程变送器 [P].

罗伯特·C·黑特克 .

中国专利 :CN101595374B ,2009-12-02

[7]

包括通用的过程接头的用于过程测量技术的测量装置 [P].

T·科普 .

中国专利 :CN103033212B ,2013-04-10

[8]

用于检测容器中的过程变量的测量设备 [P].

莱温·迪特尔勒 ;

罗兰·韦勒 ;

约尔格·博尔希格 ;

斯特芬·瓦尔德 ;

克里斯蒂安·温齐尔勒 .

中国专利 :CN113811746A ,2021-12-17

[9]

用于测量井中流体过程变量的设备 [P].

罗伯特·C·海德克 ;

卢良驹 .

中国专利 :CN202391421U ,2012-08-22

[10]

用于测量井中流体过程变量的方法和设备 [P].

罗伯特·C·海德克 ;

卢良驹 .

中国专利 :CN102383785A ,2012-03-21

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