深度测量方法、芯片和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110184297.1

申请日：

2021-02-08

公开(公告)号：

CN112954230B

公开(公告)日：

2021-06-11

发明(设计)人：

李明采

申请人：

申请人地址：

518045 广东省深圳市福田保税区腾飞工业大厦B座13层

IPC主分类号：

H04N5235

IPC分类号：

G01S1708

代理机构：

上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260

代理人：

成丽杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 5/235 申请日:20210208
2022-09-09	授权	授权
2021-06-11	公开	公开

共 50 条

[1]

深度测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘国平 ;

向许波 ;

佘中华 ;

刘锦金 ;

张英宜 .

中国专利 :CN112950699A ,2021-06-11

[2]

事件测量方法和电子设备 [P].

南鑫 ;

王纲 .

中国专利 :CN119562006B ,2025-06-06

[3]

血压测量方法和电子设备 [P].

汤献文 .

中国专利 :CN117694854B ,2025-08-08

[4]

测量方法、装置和电子设备 [P].

刘彦泽 .

中国专利 :CN112379363A ,2021-02-19

[5]

血压测量方法和电子设备 [P].

汤献文 .

中国专利 :CN117694854A ,2024-03-15

[6]

事件测量方法和电子设备 [P].

南鑫 ;

王纲 .

中国专利 :CN119562006A ,2025-03-04

[7]

功率测量方法和电子设备 [P].

陈业旺 ;

阮双琛 ;

韩培刚 ;

仇明侠 ;

欧阳德钦 ;

刘敏秋 ;

陈燕平 .

中国专利 :CN108917923A ,2018-11-30

[8]

散焦深度测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李晖 ;

陈伟灵 ;

何燕成 .

中国专利 :CN115049716A ,2022-09-13

[9]

散焦深度测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李晖 ;

陈伟灵 ;

何燕成 .

中国专利 :CN115049716B ,2025-01-10

[10]

到达角测量方法、电子设备、可读存储介质和芯片 [P].

许耀仁 ;

蔡智宇 ;

李建铭 ;

林青燕 .

中国专利 :CN119902155A ,2025-04-29

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