存储器地址发生电路和半导体存储器件

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专利类型
发明
申请号
CN99103390.6
申请日
1999-03-17
公开(公告)号
CN1229992A
公开(公告)日
1999-09-29
发明(设计)人
大野一树
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G11C1134
IPC分类号
G11C800
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司
代理人
朱进桂
法律状态
专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体存储器件 [P]. 
蔡炅敏 ;
金珉秀 .
中国专利 :CN106816168B ,2017-06-09
[2]
半导体存储器件的纠错电路和半导体存储器件 [P]. 
赵诚慧 ;
李起准 ;
宋英杰 ;
金成来 ;
金赞起 ;
李明奎 ;
车相彦 .
中国专利 :CN113140252A ,2021-07-20
[3]
半导体存储器件的纠错电路和半导体存储器件 [P]. 
赵诚慧 ;
李起准 ;
宋英杰 ;
金成来 ;
金赞起 ;
李明奎 ;
车相彦 .
韩国专利 :CN113140252B ,2025-09-19
[4]
半导体存储器件和存储器模块 [P]. 
赵健熙 ;
崔原荣 .
韩国专利 :CN117746943A ,2024-03-22
[5]
半导体存储器件和存储器系统 [P]. 
藤冈伸也 ;
佐藤光德 .
中国专利 :CN101430927A ,2009-05-13
[6]
半导体存储器件和存储器系统 [P]. 
藤冈伸也 ;
佐藤光德 .
中国专利 :CN101430928A ,2009-05-13
[7]
半导体存储器件和堆叠存储器件 [P]. 
金荣勋 ;
金容善 ;
尹汉天 ;
郑成润 ;
金大贤 ;
金明五 .
韩国专利 :CN121237167A ,2025-12-30
[8]
半导体存储器件 [P]. 
饭田真久 ;
大田清人 .
中国专利 :CN101286361A ,2008-10-15
[9]
半导体存储器件和半导体存储器件测试方法 [P]. 
中川宏 ;
大石贯时 .
中国专利 :CN100498975C ,2006-09-27
[10]
半导体存储器件的检测电路及半导体存储器件 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN109994146A ,2019-07-09