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一种数字芯片自动化测试机
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202122194959.1
申请日：
2021-09-11
公开(公告)号：
CN216052059U
公开(公告)日：
2022-03-15
发明(设计)人：
魏亨儒
刘雄丰
申请人：
申请人地址：
518102 广东省深圳市宝安区西乡街道共乐社区共和工业路明月花都F栋1009
IPC主分类号：
G01R31317
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-03-15 | 授权 | 授权 |