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一种数字芯片测试机
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202020577865.5
申请日
:
2020-04-17
公开(公告)号
:
CN212160006U
公开(公告)日
:
2020-12-15
发明(设计)人
:
黄辉
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市龙岗区横岗街道志盛社区隆盛花园兴龙阁5A
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-12-15
授权
授权
共 50 条
[1]
一种数字芯片测试机
[P].
陈晨
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
盐城市嘉鸿微电子有限公司
盐城市嘉鸿微电子有限公司
陈晨
;
李凤文
论文数:
0
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0
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机构:
盐城市嘉鸿微电子有限公司
盐城市嘉鸿微电子有限公司
李凤文
.
中国专利
:CN119247108A
,2025-01-03
[2]
一种数字芯片自动化测试机
[P].
魏亨儒
论文数:
0
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0
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0
魏亨儒
;
刘雄丰
论文数:
0
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0
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0
刘雄丰
.
中国专利
:CN216052059U
,2022-03-15
[3]
芯片测试机
[P].
白盛闵
论文数:
0
引用数:
0
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0
白盛闵
.
中国专利
:CN217787141U
,2022-11-11
[4]
芯片测试机构及测试机
[P].
张磊
论文数:
0
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0
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0
张磊
;
陈波
论文数:
0
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0
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0
陈波
.
中国专利
:CN216595407U
,2022-05-24
[5]
一种芯片联动测试机
[P].
杨斌
论文数:
0
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0
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杨斌
;
黄峰荣
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0
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黄峰荣
;
何秋生
论文数:
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0
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何秋生
.
中国专利
:CN212483761U
,2021-02-05
[6]
一种闪存芯片测试机
[P].
江小俊
论文数:
0
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
江小俊
;
乐群英
论文数:
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群英
;
乐群建
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群建
;
黄传红
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
黄传红
.
中国专利
:CN222734680U
,2025-04-08
[7]
一种芯片电路测试机
[P].
郝弘毅
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机构:
合肥芯旷电子科技有限公司
合肥芯旷电子科技有限公司
郝弘毅
;
请求不公布姓名
论文数:
0
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机构:
合肥芯旷电子科技有限公司
合肥芯旷电子科技有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN222337292U
,2025-01-10
[8]
一种闪存芯片测试机
[P].
王永安
论文数:
0
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0
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0
王永安
.
中国专利
:CN207937563U
,2018-10-02
[9]
一种芯片烧录测试机
[P].
李勇
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李勇
;
刘湘鹏
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刘湘鹏
;
刘振华
论文数:
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刘振华
.
中国专利
:CN218413454U
,2023-01-31
[10]
一种芯片烧录测试机
[P].
董继承
论文数:
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董继承
;
邱志良
论文数:
0
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邱志良
.
中国专利
:CN216619034U
,2022-05-27
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