一种数字芯片测试机

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202020577865.5
申请日
2020-04-17
公开(公告)号
CN212160006U
公开(公告)日
2020-12-15
发明(设计)人
黄辉
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙岗区横岗街道志盛社区隆盛花园兴龙阁5A
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种数字芯片测试机 [P]. 
陈晨 ;
李凤文 .
中国专利 :CN119247108A ,2025-01-03
[2]
一种数字芯片自动化测试机 [P]. 
魏亨儒 ;
刘雄丰 .
中国专利 :CN216052059U ,2022-03-15
[3]
芯片测试机 [P]. 
白盛闵 .
中国专利 :CN217787141U ,2022-11-11
[4]
芯片测试机构及测试机 [P]. 
张磊 ;
陈波 .
中国专利 :CN216595407U ,2022-05-24
[5]
一种芯片联动测试机 [P]. 
杨斌 ;
黄峰荣 ;
何秋生 .
中国专利 :CN212483761U ,2021-02-05
[6]
一种闪存芯片测试机 [P]. 
江小俊 ;
乐群英 ;
乐群建 ;
黄传红 .
中国专利 :CN222734680U ,2025-04-08
[7]
一种芯片电路测试机 [P]. 
郝弘毅 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN222337292U ,2025-01-10
[8]
一种闪存芯片测试机 [P]. 
王永安 .
中国专利 :CN207937563U ,2018-10-02
[9]
一种芯片烧录测试机 [P]. 
李勇 ;
刘湘鹏 ;
刘振华 .
中国专利 :CN218413454U ,2023-01-31
[10]
一种芯片烧录测试机 [P]. 
董继承 ;
邱志良 .
中国专利 :CN216619034U ,2022-05-27