一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910867000.4

申请日：

2019-09-12

公开(公告)号：

CN110530912A

公开(公告)日：

2019-12-03

发明(设计)人：

刘建红胡晓春林哲琼

申请人：

申请人地址：

200131 上海市浦东新区自由贸易试验区富特西一路381号汤臣园区A1楼第6层B部位

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

G16C2020

代理机构：

广州骏思知识产权代理有限公司 44425

代理人：

吴静芝

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-04	授权	授权
2019-12-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20190912
2019-12-03	公开	公开

共 50 条

[1]

一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

赵晓仿 ;

郭冰 ;

龚武 .

中国专利 :CN121164343A ,2025-12-19

[2]

一种X射线荧光光谱分析方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107328800A ,2017-11-07

[3]

用X射线荧光光谱分析生铁成分的方法 [P].

杜登福 .

中国专利 :CN105241907B ,2016-01-13

[4]

用于X射线荧光光谱分析的超载膜 [P].

袁家义 ;

吕振生 ;

王卿 .

中国专利 :CN2802502Y ,2006-08-02

[5]

一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法 [P].

李可及 ;

刘卫 ;

李刚 ;

卢彦 ;

赵改红 .

中国专利 :CN105738394A ,2016-07-06

[6]

连铸保护渣X射线荧光光谱分析方法 [P].

边立槐 ;

殷宏 ;

杨觎 ;

孙颖 .

中国专利 :CN101498675A ,2009-08-05

[7]

用于X射线荧光光谱分析的熔剂 [P].

袁家义 ;

白雪冰 ;

吕振生 .

中国专利 :CN1800811B ,2006-07-12

[8]

一种X射线荧光光谱分析装置 [P].

梁志宏 .

中国专利 :CN201773074U ,2011-03-23

[9]

一种薄样掠射X射线荧光光谱分析方法 [P].

董宁 ;

戴煦 ;

陈君 ;

李波 ;

刘攀超 .

中国专利 :CN102680506A ,2012-09-19

[10]

一种X射线荧光光谱分析铁矿石成分的方法 [P].

王志 ;

刘青桥 ;

贺晓虎 ;

曹志强 ;

陈卫金 ;

胡巍 .

中国专利 :CN101526488A ,2009-09-09

← 1 2 3 4 5 →