一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法、系统、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511548520.0

申请日：

2025-10-28

公开(公告)号：

CN121164343A

公开(公告)日：

2025-12-19

发明(设计)人：

赵晓仿郭冰龚武

申请人：

北京谱质恒科技有限公司跃迁科技（天津）有限公司

申请人地址：

101102 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十三街31号院二区9号楼3层101-20室

IPC主分类号：

G01N23/223

IPC分类号：

G01B15/02

代理机构：

北京宏铎知识产权代理有限公司 34250

代理人：

菅秀君

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-19	公开	公开

共 50 条

[1]

一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法 [P].

刘建红 ;

胡晓春 ;

林哲琼 .

中国专利 :CN110530912A ,2019-12-03

[2]

一种X射线荧光光谱分析方法 [P].

杜亚明 .

中国专利 :CN107328800A ,2017-11-07

[3]

用X射线荧光光谱分析生铁成分的方法 [P].

杜登福 .

中国专利 :CN105241907B ,2016-01-13

[4]

一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法 [P].

李可及 ;

刘卫 ;

李刚 ;

卢彦 ;

赵改红 .

中国专利 :CN105738394A ,2016-07-06

[5]

一种在线X射线荧光光谱分析系统 [P].

张海涛 ;

张锁江 .

中国专利 :CN106908466A ,2017-06-30

[6]

X射线荧光光谱分析设备的标定方法及装置 [P].

黄宇翔 ;

张贝 ;

贡志锋 ;

陈治均 ;

郑翠芳 ;

陈金文 ;

李卓 ;

张雪娜 ;

洪峰 .

中国专利 :CN115684232A ,2023-02-03

[7]

X射线荧光光谱分析设备的标定方法及装置 [P].

黄宇翔 ;

张贝 ;

贡志锋 ;

陈治均 ;

郑翠芳 ;

陈金文 ;

李卓 ;

张雪娜 ;

洪峰 .

中国专利 :CN115684232B ,2025-02-18

[8]

一种X射线荧光光谱分析装置 [P].

梁志宏 .

中国专利 :CN201773074U ,2011-03-23

[9]

基于支持向量机的X射线荧光光谱分析方法及装置 [P].

陆安祥 ;

王纪华 ;

田晓琴 ;

付海龙 ;

李芳 .

中国专利 :CN104198512A ,2014-12-10

[10]

一种薄样掠射X射线荧光光谱分析方法 [P].

董宁 ;

戴煦 ;

陈君 ;

李波 ;

刘攀超 .

中国专利 :CN102680506A ,2012-09-19

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