一种面结构光三维测量系统的校正方法和设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111423464.X
申请日
2021-11-26
公开(公告)号
CN114111639A
公开(公告)日
2022-03-01
发明(设计)人
蔡明杰 房徐 张勇 姚毅 杨艺
申请人
申请人地址
100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室
IPC主分类号
G01B1125
IPC分类号
代理机构
北京弘权知识产权代理有限公司 11363
代理人
逯长明;许伟群
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种面结构光三维测量系统的校正方法和设备 [P]. 
蔡明杰 ;
房徐 ;
张勇 ;
姚毅 ;
杨艺 .
中国专利 :CN114111639B ,2024-04-30
[2]
面结构光三维测量系统的标定方法 [P]. 
张晓元 ;
杨艺 .
中国专利 :CN111028297A ,2020-04-17
[3]
一种面结构光三维测量系统 [P]. 
钟凯 ;
李中伟 ;
李家乐 ;
黄锦涛 ;
田鸿业 ;
张攀 .
中国专利 :CN222460616U ,2025-02-11
[4]
面结构光三维测量系统及方法 [P]. 
何文韬 ;
王辰 ;
王晓南 ;
孙繁 .
中国专利 :CN117824532A ,2024-04-05
[5]
一种线结构光三维测量系统标定方法 [P]. 
杨迪 ;
乔大勇 ;
夏长锋 .
中国专利 :CN113865514A ,2021-12-31
[6]
一种面结构光三维测量系统 [P]. 
岳慧敏 ;
李绒 ;
潘志鹏 ;
陈红丽 ;
刘永 .
中国专利 :CN106197322A ,2016-12-07
[7]
一种线结构光三维测量系统的标定方法 [P]. 
杨迪 ;
乔大勇 ;
夏长锋 .
中国专利 :CN108458671A ,2018-08-28
[8]
一种条纹投影三维测量非线性误差校正方法 [P]. 
王玉伟 ;
王彩霞 ;
蔡家旭 ;
刘路 ;
唐七星 ;
陈向成 .
中国专利 :CN113465544B ,2021-10-01
[9]
结构光三维测量系统 [P]. 
杨泓宇 ;
鲜宗均 ;
胡兴成 ;
彭子赞 ;
袁寒 .
中国专利 :CN220794168U ,2024-04-16
[10]
一种光栅投影三维测量系统的误差校正方法 [P]. 
达飞鹏 ;
饶立 .
中国专利 :CN106595522A ,2017-04-26