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一种面结构光三维测量系统的校正方法和设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111423464.X
申请日
:
2021-11-26
公开(公告)号
:
CN114111639A
公开(公告)日
:
2022-03-01
发明(设计)人
:
蔡明杰
房徐
张勇
姚毅
杨艺
申请人
:
申请人地址
:
100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室
IPC主分类号
:
G01B1125
IPC分类号
:
代理机构
:
北京弘权知识产权代理有限公司 11363
代理人
:
逯长明;许伟群
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-18
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20211126
2022-03-01
公开
公开
共 50 条
[1]
一种面结构光三维测量系统的校正方法和设备
[P].
蔡明杰
论文数:
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机构:
凌云光技术股份有限公司
凌云光技术股份有限公司
蔡明杰
;
房徐
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机构:
凌云光技术股份有限公司
凌云光技术股份有限公司
房徐
;
张勇
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机构:
凌云光技术股份有限公司
凌云光技术股份有限公司
张勇
;
姚毅
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机构:
凌云光技术股份有限公司
凌云光技术股份有限公司
姚毅
;
杨艺
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机构:
凌云光技术股份有限公司
凌云光技术股份有限公司
杨艺
.
中国专利
:CN114111639B
,2024-04-30
[2]
面结构光三维测量系统的标定方法
[P].
张晓元
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张晓元
;
杨艺
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杨艺
.
中国专利
:CN111028297A
,2020-04-17
[3]
一种面结构光三维测量系统
[P].
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机构:
钟凯
;
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机构:
李中伟
;
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机构:
李家乐
;
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机构:
黄锦涛
;
田鸿业
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
田鸿业
;
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机构:
张攀
.
中国专利
:CN222460616U
,2025-02-11
[4]
面结构光三维测量系统及方法
[P].
何文韬
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机构:
武汉中观自动化科技有限公司
武汉中观自动化科技有限公司
何文韬
;
王辰
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机构:
武汉中观自动化科技有限公司
武汉中观自动化科技有限公司
王辰
;
王晓南
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机构:
武汉中观自动化科技有限公司
武汉中观自动化科技有限公司
王晓南
;
孙繁
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机构:
武汉中观自动化科技有限公司
武汉中观自动化科技有限公司
孙繁
.
中国专利
:CN117824532A
,2024-04-05
[5]
一种线结构光三维测量系统标定方法
[P].
杨迪
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杨迪
;
乔大勇
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乔大勇
;
夏长锋
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夏长锋
.
中国专利
:CN113865514A
,2021-12-31
[6]
一种面结构光三维测量系统
[P].
岳慧敏
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岳慧敏
;
李绒
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李绒
;
潘志鹏
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潘志鹏
;
陈红丽
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陈红丽
;
刘永
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刘永
.
中国专利
:CN106197322A
,2016-12-07
[7]
一种线结构光三维测量系统的标定方法
[P].
杨迪
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杨迪
;
乔大勇
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乔大勇
;
夏长锋
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夏长锋
.
中国专利
:CN108458671A
,2018-08-28
[8]
一种条纹投影三维测量非线性误差校正方法
[P].
王玉伟
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王玉伟
;
王彩霞
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王彩霞
;
蔡家旭
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蔡家旭
;
刘路
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刘路
;
唐七星
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唐七星
;
陈向成
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陈向成
.
中国专利
:CN113465544B
,2021-10-01
[9]
结构光三维测量系统
[P].
杨泓宇
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机构:
成都信息工程大学
成都信息工程大学
杨泓宇
;
鲜宗均
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机构:
成都信息工程大学
成都信息工程大学
鲜宗均
;
胡兴成
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成都信息工程大学
成都信息工程大学
胡兴成
;
彭子赞
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成都信息工程大学
成都信息工程大学
彭子赞
;
袁寒
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机构:
成都信息工程大学
成都信息工程大学
袁寒
.
中国专利
:CN220794168U
,2024-04-16
[10]
一种光栅投影三维测量系统的误差校正方法
[P].
达飞鹏
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达飞鹏
;
饶立
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饶立
.
中国专利
:CN106595522A
,2017-04-26
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