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光传感器、光检测装置、纸张处理装置、光检测方法及磷光检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201880020836.4
申请日
:
2018-03-26
公开(公告)号
:
CN110537092A
公开(公告)日
:
2019-12-03
发明(设计)人
:
佐藤刚
小西博
申请人
:
申请人地址
:
日本兵库县
IPC主分类号
:
G01N2164
IPC分类号
:
G01J102
G01J142
G07D7121
H01L3112
代理机构
:
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
:
曲天佐
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-12-03
公开
公开
2019-12-27
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20180326
共 50 条
[1]
光传感器增益检测装置及光传感器增益检测方法
[P].
王晋中
论文数:
0
引用数:
0
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0
王晋中
;
杜慧妮
论文数:
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杜慧妮
;
王彦起
论文数:
0
引用数:
0
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王彦起
.
中国专利
:CN103777226A
,2014-05-07
[2]
光检测装置、光检测方法和光学式测距传感器
[P].
堀野昌伸
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0
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0
堀野昌伸
;
松井优贵
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松井优贵
;
中室健
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中室健
;
仲田佐幸
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0
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仲田佐幸
.
中国专利
:CN111819464A
,2020-10-23
[3]
光检测装置、光检测方法以及光学式测距传感器
[P].
堀野昌伸
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堀野昌伸
;
松井优贵
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松井优贵
;
中室健
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中室健
;
仲田佐幸
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0
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仲田佐幸
.
中国专利
:CN111868473B
,2020-10-30
[4]
光检测装置、光检测系统及光检测方法
[P].
崎村昇
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
崎村昇
.
日本专利
:CN117546040A
,2024-02-09
[5]
光检测装置及光检测方法
[P].
松井克宜
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0
松井克宜
;
杉山行信
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杉山行信
;
宅见宗则
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宅见宗则
;
丰田晴义
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丰田晴义
;
铃木一隆
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铃木一隆
;
中村和浩
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中村和浩
;
内田圭祐
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内田圭祐
.
中国专利
:CN111819840A
,2020-10-23
[6]
光检测装置及光检测方法
[P].
松井克宜
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松井克宜
;
宅见宗则
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宅见宗则
;
丰田晴义
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丰田晴义
;
铃木一隆
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铃木一隆
;
中村和浩
论文数:
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中村和浩
.
中国专利
:CN111837380A
,2020-10-27
[7]
光检测装置和光检测方法
[P].
前田龙男
论文数:
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0
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前田龙男
.
中国专利
:CN103163639A
,2013-06-19
[8]
光检测装置以及光检测方法
[P].
西胁青儿
论文数:
0
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西胁青儿
.
中国专利
:CN106361269A
,2017-02-01
[9]
光检测装置
[P].
大山泰生
论文数:
0
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0
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
大山泰生
;
柴山胜己
论文数:
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
柴山胜己
;
笠原隆
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
笠原隆
;
广瀬真树
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
广瀬真树
;
川合敏光
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
川合敏光
;
藏本有未
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
藏本有未
.
日本专利
:CN112955722B
,2024-07-02
[10]
光检测装置
[P].
柴山胜己
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柴山胜己
;
笠原隆
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笠原隆
;
广瀬真树
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广瀬真树
;
川合敏光
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川合敏光
.
中国专利
:CN105683725A
,2016-06-15
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