光检测装置、光检测方法以及光学式测距传感器

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201980017351.4

申请日：

2019-03-08

公开(公告)号：

CN111868473B

公开(公告)日：

2020-10-30

发明(设计)人：

堀野昌伸松井优贵中室健仲田佐幸

申请人：

申请人地址：

日本国京都府京都市

IPC主分类号：

G01C306

IPC分类号：

G01S7487 G01S1710 H01L3110

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

邓毅;黄纶伟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 3/06 申请日:20190308
2020-10-30	公开	公开
2022-04-22	授权	授权

共 50 条

[1]

光检测装置、光检测方法和光学式测距传感器 [P].

堀野昌伸 ;

松井优贵 ;

中室健 ;

仲田佐幸 .

中国专利 :CN111819464A ,2020-10-23

[2]

光传感器、光检测装置、纸张处理装置、光检测方法及磷光检测装置 [P].

佐藤刚 ;

小西博 .

中国专利 :CN110537092A ,2019-12-03

[3]

光检测和测距传感器 [P].

C·L·尼西亚斯 ;

A·施庞特 ;

G·A·阿干诺夫 ;

M·C·瓦尔登 ;

M·A·雷兹克 ;

T·欧吉雅 .

中国专利 :CN111239708A ,2020-06-05

[4]

光检测和测距传感器 [P].

P.C.洛姆布罗佐 ;

F.J.A.里韦拉 .

中国专利 :CN210270155U ,2020-04-07

[5]

光检测和测距传感器 [P].

C·L·尼西亚斯 ;

A·施庞特 ;

G·A·阿干诺夫 ;

M·C·瓦尔登 ;

M·A·雷兹克 ;

T·欧吉雅 .

中国专利 :CN108431626B ,2018-08-21

[6]

光检测和测距传感器 [P].

C·L·尼西亚斯 ;

A·施庞特 ;

G·A·阿干诺夫 ;

M·C·瓦尔登 ;

M·A·雷兹克 ;

T·欧吉雅 .

美国专利 :CN111239708B ,2024-01-09

[7]

光传感器增益检测装置及光传感器增益检测方法 [P].

王晋中 ;

杜慧妮 ;

王彦起 .

中国专利 :CN103777226A ,2014-05-07

[8]

光检测器以及使用该光检测器的光学测距装置 [P].

秦武广 ;

东谦太 ;

松原弘幸 ;

高井勇 .

中国专利 :CN112154546A ,2020-12-29

[9]

光检测装置以及光检测方法 [P].

西胁青儿 .

中国专利 :CN106361269A ,2017-02-01

[10]

光传感器以及测距方法 [P].

印秉宏 ;

王佳祥 .

中国专利 :CN113917442B ,2025-02-18

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