位置测量系统及用于位置测量的透镜

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410078506.0

申请日：

2004-09-15

公开(公告)号：

CN100494881C

公开(公告)日：

2005-08-24

发明(设计)人：

濑古保次

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01B1102

IPC分类号：

G01C300

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司

代理人：

李辉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-10-19	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-08-24	公开	公开
2017-11-03	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20040915 授权公告日:20090603 终止日期:20160915
2009-06-03	授权	授权

共 50 条

[1]

位置测量系统 [P].

濑古保次 .

中国专利 :CN101520310A ,2009-09-02

[2]

位置测量系统及位置测量方法 [P].

中村隆志 ;

一之瀬刚 .

日本专利 :CN120187566A ,2025-06-20

[3]

位置测量系统、用于位置测量系统的光栅、以及方法 [P].

W·H·G·A·凯南 .

中国专利 :CN104797983B ,2015-07-22

[4]

位置测量系统 [P].

延斯-托尔斯滕·格罗瑙 ;

米可·霍伊里希 ;

蒂诺·维格斯 .

中国专利 :CN101561241B ,2009-10-21

[5]

位置测量系统 [P].

大佛一毅 ;

林邦弘 .

中国专利 :CN1712893B ,2005-12-28

[6]

位置测量系统 [P].

J.克诺普夫 .

中国专利 :CN103791867B ,2014-05-14

[7]

位置测量系统 [P].

M·梅斯纳 ;

J·德雷谢 .

中国专利 :CN101305265A ,2008-11-12

[8]

位置测量系统 [P].

铃木智大 .

中国专利 :CN106346498A ,2017-01-25

[9]

位置测量系统 [P].

W·霍尔扎普菲尔 ;

S·赖希胡伯尔 ;

H·胡伯尔-伦克 ;

J·德雷舍尔 .

中国专利 :CN1769835B ,2006-05-10

[10]

位置测量系统 [P].

W·霍尔扎菲尔 ;

M·斯特普塔特 .

德国专利 :CN119642695A ,2025-03-18

← 1 2 3 4 5 →