探针卡、包括探针卡的半导体测试装置以及探针卡的熔丝检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010128324.5

申请日：

2010-03-03

公开(公告)号：

CN101825651A

公开(公告)日：

2010-09-08

发明(设计)人：

河野贵之

申请人：

申请人地址：

日本神奈川

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G01R3102

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

孙志湧;穆德骏

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-02-12	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101690501946 IPC(主分类):G01R 1/067 专利申请号:2010101283245 申请公布日:20100908
2011-11-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101127709433 IPC(主分类):G01R 1/067 专利申请号:2010101283245 申请日:20100303
2010-09-08	公开	公开

共 50 条

[1]

探针卡和包括探针卡的测试装置 [P].

张太镕 .

韩国专利 :CN110873815B ,2024-12-06

[2]

探针卡和包括探针卡的测试装置 [P].

张太镕 .

中国专利 :CN110873815A ,2020-03-10

[3]

探针卡和包括探针卡的测试装置 [P].

金旻奭 ;

洪承一 .

韩国专利 :CN118431200A ,2024-08-02

[4]

探针卡和包括探针卡的测试装置 [P].

堀井秀树 ;

金荣国 ;

朴美林 .

中国专利 :CN102081109A ,2011-06-01

[5]

探针卡、包括该探针卡的测试装置以及相关的制造方法 [P].

李民雨 ;

金德谦 ;

金宰弘 ;

尹志宁 ;

朴仁奎 ;

尹浚宝 ;

权洞煜 ;

金升焕 ;

金昌根 ;

尹龙勋 .

中国专利 :CN109425764A ,2019-03-05

[6]

探针卡及半导体测试装置 [P].

彭群 .

中国专利 :CN206920483U ,2018-01-23

[7]

包括检测探针的探针卡制造方法和探针卡、探针卡检查系统 [P].

李瀚茂 .

中国专利 :CN101762723A ,2010-06-30

[8]

探针卡,该探针卡的设计方法,以及使用该探针卡测试半导体芯片的方法 [P].

福岛义德 ;

川真田阳介 .

中国专利 :CN101038302A ,2007-09-19

[9]

探针测试装置、探针测试系统和探针卡 [P].

花井寿佳 ;

谷村政明 ;

铃木浩司 .

日本专利 :CN120044280A ,2025-05-27

[10]

探针卡及半导体测试装置 [P].

张帆 .

中国专利 :CN218099323U ,2022-12-20

← 1 2 3 4 5 →