探针卡和包括探针卡的测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910799763.X

申请日：

2019-08-28

公开(公告)号：

CN110873815B

公开(公告)日：

2024-12-06

发明(设计)人：

张太镕

申请人：

三星显示有限公司

申请人地址：

韩国京畿道

IPC主分类号：

G01R1/073

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204

代理人：

王达佐;刘铮

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-06	授权	授权

共 50 条

[1]

探针卡和包括探针卡的测试装置 [P].

张太镕 .

中国专利 :CN110873815A ,2020-03-10

[2]

探针卡和包括探针卡的测试装置 [P].

金旻奭 ;

洪承一 .

韩国专利 :CN118431200A ,2024-08-02

[3]

探针卡和包括探针卡的测试装置 [P].

堀井秀树 ;

金荣国 ;

朴美林 .

中国专利 :CN102081109A ,2011-06-01

[4]

探针测试装置、探针测试系统和探针卡 [P].

花井寿佳 ;

谷村政明 ;

铃木浩司 .

日本专利 :CN120044280A ,2025-05-27

[5]

探针卡测试装置 [P].

简涛 ;

陆聪 ;

孙文涛 ;

谢刚刚 ;

陈勇 .

中国专利 :CN221977036U ,2024-11-08

[6]

探针卡测试装置 [P].

曾子章 ;

刘汉诚 ;

田国庆 ;

谭瑞敏 .

中国专利 :CN115453438B ,2024-10-11

[7]

探针卡测试装置 [P].

曾子章 ;

刘汉诚 ;

田国庆 ;

谭瑞敏 .

中国专利 :CN115453438A ,2022-12-09

[8]

探针卡测试装置 [P].

李文聪 ;

谢开杰 ;

郑孟杰 ;

李晓刚 .

中国专利 :CN111722093A ,2020-09-29

[9]

探针卡、包括探针卡的半导体测试装置以及探针卡的熔丝检查方法 [P].

河野贵之 .

中国专利 :CN101825651A ,2010-09-08

[10]

探针卡、包括该探针卡的测试装置以及相关的制造方法 [P].

李民雨 ;

金德谦 ;

金宰弘 ;

尹志宁 ;

朴仁奎 ;

尹浚宝 ;

权洞煜 ;

金升焕 ;

金昌根 ;

尹龙勋 .

中国专利 :CN109425764A ,2019-03-05

← 1 2 3 4 5 →