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探针卡测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110644020.2
申请日
:
2021-06-09
公开(公告)号
:
CN115453438B
公开(公告)日
:
2024-10-11
发明(设计)人
:
曾子章
刘汉诚
田国庆
谭瑞敏
申请人
:
欣兴电子股份有限公司
申请人地址
:
中国台湾桃园市龟山区山莺路179号
IPC主分类号
:
G01R35/02
IPC分类号
:
代理机构
:
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
:
宋兴;黄健
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-10-11
授权
授权
共 50 条
[1]
探针卡测试装置
[P].
曾子章
论文数:
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曾子章
;
刘汉诚
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刘汉诚
;
田国庆
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田国庆
;
谭瑞敏
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谭瑞敏
.
中国专利
:CN115453438A
,2022-12-09
[2]
探针卡测试装置
[P].
李文聪
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0
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0
李文聪
;
谢开杰
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谢开杰
;
郑孟杰
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郑孟杰
;
李晓刚
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李晓刚
.
中国专利
:CN111722093A
,2020-09-29
[3]
探针卡测试装置及测试装置
[P].
李文聪
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李文聪
;
谢开杰
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谢开杰
.
中国专利
:CN110927416B
,2020-03-27
[4]
探针卡测试装置
[P].
简涛
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
简涛
;
陆聪
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
陆聪
;
孙文涛
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
孙文涛
;
谢刚刚
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
谢刚刚
;
陈勇
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
陈勇
.
中国专利
:CN221977036U
,2024-11-08
[5]
探针测试装置、探针测试系统和探针卡
[P].
花井寿佳
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机构:
瑞萨电子株式会社
瑞萨电子株式会社
花井寿佳
;
谷村政明
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机构:
瑞萨电子株式会社
瑞萨电子株式会社
谷村政明
;
铃木浩司
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机构:
瑞萨电子株式会社
瑞萨电子株式会社
铃木浩司
.
日本专利
:CN120044280A
,2025-05-27
[6]
探针卡高温测试装置
[P].
岳小兵
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岳小兵
;
牛勇
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牛勇
;
汤雪飞
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汤雪飞
;
王锦
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王锦
;
罗斌
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罗斌
.
中国专利
:CN106124964A
,2016-11-16
[7]
探针卡和包括探针卡的测试装置
[P].
张太镕
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机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
张太镕
.
韩国专利
:CN110873815B
,2024-12-06
[8]
探针卡和包括探针卡的测试装置
[P].
张太镕
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张太镕
.
中国专利
:CN110873815A
,2020-03-10
[9]
探针卡和包括探针卡的测试装置
[P].
金旻奭
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机构:
LX半导体科技有限公司
LX半导体科技有限公司
金旻奭
;
洪承一
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机构:
LX半导体科技有限公司
LX半导体科技有限公司
洪承一
.
韩国专利
:CN118431200A
,2024-08-02
[10]
探针卡和包括探针卡的测试装置
[P].
堀井秀树
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堀井秀树
;
金荣国
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金荣国
;
朴美林
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朴美林
.
中国专利
:CN102081109A
,2011-06-01
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