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探针卡测试装置及测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811093677.9
申请日
:
2018-09-19
公开(公告)号
:
CN110927416B
公开(公告)日
:
2020-03-27
发明(设计)人
:
李文聪
谢开杰
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾桃园市
IPC主分类号
:
G01R1073
IPC分类号
:
代理机构
:
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人
:
聂慧荃;郑特强
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-04-21
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/073 申请日:20180919
2020-03-27
公开
公开
2022-01-28
授权
授权
共 50 条
[1]
探针卡测试装置
[P].
李文聪
论文数:
0
引用数:
0
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0
李文聪
;
谢开杰
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谢开杰
;
郑孟杰
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郑孟杰
;
李晓刚
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李晓刚
.
中国专利
:CN111722093A
,2020-09-29
[2]
探针卡测试装置
[P].
曾子章
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机构:
欣兴电子股份有限公司
欣兴电子股份有限公司
曾子章
;
刘汉诚
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机构:
欣兴电子股份有限公司
欣兴电子股份有限公司
刘汉诚
;
田国庆
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机构:
欣兴电子股份有限公司
欣兴电子股份有限公司
田国庆
;
谭瑞敏
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机构:
欣兴电子股份有限公司
欣兴电子股份有限公司
谭瑞敏
.
中国专利
:CN115453438B
,2024-10-11
[3]
探针卡测试装置
[P].
曾子章
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曾子章
;
刘汉诚
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刘汉诚
;
田国庆
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田国庆
;
谭瑞敏
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谭瑞敏
.
中国专利
:CN115453438A
,2022-12-09
[4]
探针卡测试装置
[P].
简涛
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
简涛
;
陆聪
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
陆聪
;
孙文涛
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
孙文涛
;
谢刚刚
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
谢刚刚
;
陈勇
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
陈勇
.
中国专利
:CN221977036U
,2024-11-08
[5]
测试装置及折叠探针卡测试系统
[P].
周敏忠
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0
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周敏忠
.
中国专利
:CN110398617B
,2019-11-01
[6]
探针卡高温测试装置
[P].
岳小兵
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岳小兵
;
牛勇
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牛勇
;
汤雪飞
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汤雪飞
;
王锦
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王锦
;
罗斌
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罗斌
.
中国专利
:CN106124964A
,2016-11-16
[7]
探针测试装置、探针测试系统和探针卡
[P].
花井寿佳
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机构:
瑞萨电子株式会社
瑞萨电子株式会社
花井寿佳
;
谷村政明
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机构:
瑞萨电子株式会社
瑞萨电子株式会社
谷村政明
;
铃木浩司
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机构:
瑞萨电子株式会社
瑞萨电子株式会社
铃木浩司
.
日本专利
:CN120044280A
,2025-05-27
[8]
探针卡、测试装置和测试方法
[P].
平塚准
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平塚准
.
中国专利
:CN101943709A
,2011-01-12
[9]
测试卡及测试装置
[P].
刘昌其
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刘昌其
.
中国专利
:CN200969091Y
,2007-10-31
[10]
探针测试装置
[P].
孙宏川
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孙宏川
;
简志忠
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简志忠
;
杨惠彬
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杨惠彬
;
吴坚州
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吴坚州
;
黄朝敬
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黄朝敬
;
施伯宗
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施伯宗
.
中国专利
:CN101644724A
,2010-02-10
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