测试装置及折叠探针卡测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810377251.X

申请日：

2018-04-25

公开(公告)号：

CN110398617B

公开(公告)日：

2019-11-01

发明(设计)人：

周敏忠

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹市

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

王珊珊

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-11-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/073 申请日:20180425
2019-11-01	公开	公开
2022-03-25	授权	授权

共 50 条

[1]

探针测试装置、探针测试系统和探针卡 [P].

花井寿佳 ;

谷村政明 ;

铃木浩司 .

日本专利 :CN120044280A ,2025-05-27

[2]

探针卡测试装置及测试装置 [P].

李文聪 ;

谢开杰 .

中国专利 :CN110927416B ,2020-03-27

[3]

探针卡测试装置 [P].

简涛 ;

陆聪 ;

孙文涛 ;

谢刚刚 ;

陈勇 .

中国专利 :CN221977036U ,2024-11-08

[4]

探针卡测试装置 [P].

曾子章 ;

刘汉诚 ;

田国庆 ;

谭瑞敏 .

中国专利 :CN115453438B ,2024-10-11

[5]

探针卡测试装置 [P].

曾子章 ;

刘汉诚 ;

田国庆 ;

谭瑞敏 .

中国专利 :CN115453438A ,2022-12-09

[6]

探针卡测试装置 [P].

李文聪 ;

谢开杰 ;

郑孟杰 ;

李晓刚 .

中国专利 :CN111722093A ,2020-09-29

[7]

测试装置、测试卡及测试系统 [P].

小林秀雄 .

中国专利 :CN101329644A ,2008-12-24

[8]

探针卡、测试装置和测试方法 [P].

平塚准 .

中国专利 :CN101943709A ,2011-01-12

[9]

探针卡高温测试装置 [P].

岳小兵 ;

牛勇 ;

汤雪飞 ;

王锦 ;

罗斌 .

中国专利 :CN106124964A ,2016-11-16

[10]

探针卡及半导体测试装置 [P].

彭群 .

中国专利 :CN206920483U ,2018-01-23

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