基于二维光学点阵的漫反射型表面形貌测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811173059.5

申请日：

2018-10-09

公开(公告)号：

CN109579747B

公开(公告)日：

2019-04-05

发明(设计)人：

胡春光曲正查日东凌秋雨胡晓东胡小唐

申请人：

申请人地址：

300072 天津市南开区卫津路92号

IPC主分类号：

G01B1130

IPC分类号：

G01N2188

代理机构：

天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201

代理人：

程毓英

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-30	授权	授权
2019-04-05	公开	公开
2019-04-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/30 申请日:20181009

共 50 条

[1]

基于二维光学点阵的反射型面形测量方法和装置 [P].

胡春光 ;

凌秋雨 ;

查日东 ;

李奇峰 ;

胡晓东 ;

李宏斌 ;

胡小唐 .

中国专利 :CN108303038B ,2018-07-20

[2]

一种基于二维编码的三维形貌测量方法 [P].

周钢 ;

王从军 ;

李中伟 ;

杜俊贤 ;

朱本璋 ;

李晓宁 ;

张贵姣 .

中国专利 :CN101089551A ,2007-12-19

[3]

一维表面形貌测量系统及其测量方法 [P].

王建立 ;

王之一 ;

王廷煜 ;

杨永强 ;

糜小涛 ;

杨禹凯 ;

全胜 ;

姚凯男 ;

刘昌华 .

中国专利 :CN115342749A ,2022-11-15

[4]

一维表面形貌测量系统及其测量方法 [P].

王建立 ;

王之一 ;

王廷煜 ;

杨永强 ;

糜小涛 ;

杨禹凯 ;

全胜 ;

姚凯男 ;

刘昌华 .

中国专利 :CN115342749B ,2025-07-22

[5]

一种基于光学剪切的二维光学应变花测量方法 [P].

谢惠民 ;

花韬 ;

戴福隆 .

中国专利 :CN101514890A ,2009-08-26

[6]

一种光学三维形貌测量方法 [P].

赵宏 ;

张春伟 .

中国专利 :CN105953749A ,2016-09-21

[7]

基于条纹标定的三维形貌测量方法 [P].

孙晨 ;

王云舒 ;

丁天皓 ;

陈巨兵 ;

马少鹏 .

中国专利 :CN113091646A ,2021-07-09

[8]

一种基于双屏的物体表面三维形貌测量方法 [P].

黄健康 ;

李挺 ;

何旌 ;

何笑英 ;

石玗 ;

樊丁 .

中国专利 :CN106216815A ,2016-12-14

[9]

测量物体二维或三维形状的光学仪器 [P].

林双根 ;

金起弘 ;

曹相铉 ;

崔二培 ;

李相允 .

中国专利 :CN100510613C ,2005-05-11

[10]

一种基于反射激光空间分布的物体三维形貌测量方法 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN113639663B ,2021-11-12

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