量测系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921042841.3
申请日
2019-07-05
公开(公告)号
CN211086594U
公开(公告)日
2020-07-24
发明(设计)人
魏守德 陈韦志
申请人
申请人地址
510663 广东省广州市高新技术产业开发区科学城光谱西路25号
IPC主分类号
G01S7497
IPC分类号
G01S1708 G01B1124
代理机构
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
张燕华;祁建国
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
量测系统 [P]. 
楊承澤 .
中国专利 :CN214173288U ,2021-09-10
[2]
量测系统 [P]. 
杨孟文 ;
杨正廉 ;
许铭昌 ;
林岳晖 ;
王瑞萍 ;
沈燕士 .
中国专利 :CN201104268Y ,2008-08-20
[3]
辅助量测治具及量测系统 [P]. 
成镓伟 .
中国专利 :CN218443803U ,2023-02-03
[4]
光学量测系统 [P]. 
李彦志 .
中国专利 :CN215639275U ,2022-01-25
[5]
光学量测系统 [P]. 
李诗婷 ;
钟世宾 ;
王家祥 .
中国专利 :CN220524907U ,2024-02-23
[6]
量测卡、量测系统及量测方法 [P]. 
张育维 ;
杨茆世芳 ;
马天彦 .
中国专利 :CN117804330A ,2024-04-02
[7]
晶圆薄膜量测装置及量测系统 [P]. 
李贤铭 ;
陈国庆 .
中国专利 :CN209087771U ,2019-07-09
[8]
量测手套及量测系统 [P]. 
张家齐 ;
萧子健 .
中国专利 :CN105455788A ,2016-04-06
[9]
量测系统与量测方法 [P]. 
张钰林 ;
童凯炀 ;
林茂青 .
中国专利 :CN107966625A ,2018-04-27
[10]
量测系统 [P]. 
孙庆成 ;
余业纬 ;
林廷玮 ;
林哲巨 .
中国专利 :CN105277339B ,2016-01-27