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量测系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201921042841.3
申请日
:
2019-07-05
公开(公告)号
:
CN211086594U
公开(公告)日
:
2020-07-24
发明(设计)人
:
魏守德
陈韦志
申请人
:
申请人地址
:
510663 广东省广州市高新技术产业开发区科学城光谱西路25号
IPC主分类号
:
G01S7497
IPC分类号
:
G01S1708
G01B1124
代理机构
:
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
:
张燕华;祁建国
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-07-24
授权
授权
共 50 条
[1]
量测系统
[P].
楊承澤
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楊承澤
.
中国专利
:CN214173288U
,2021-09-10
[2]
量测系统
[P].
杨孟文
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杨孟文
;
杨正廉
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杨正廉
;
许铭昌
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许铭昌
;
林岳晖
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林岳晖
;
王瑞萍
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王瑞萍
;
沈燕士
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沈燕士
.
中国专利
:CN201104268Y
,2008-08-20
[3]
辅助量测治具及量测系统
[P].
成镓伟
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成镓伟
.
中国专利
:CN218443803U
,2023-02-03
[4]
光学量测系统
[P].
李彦志
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李彦志
.
中国专利
:CN215639275U
,2022-01-25
[5]
光学量测系统
[P].
李诗婷
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日月光半导体制造股份有限公司
日月光半导体制造股份有限公司
李诗婷
;
钟世宾
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机构:
日月光半导体制造股份有限公司
日月光半导体制造股份有限公司
钟世宾
;
王家祥
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机构:
日月光半导体制造股份有限公司
日月光半导体制造股份有限公司
王家祥
.
中国专利
:CN220524907U
,2024-02-23
[6]
量测卡、量测系统及量测方法
[P].
张育维
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机构:
财团法人工业技术研究院
财团法人工业技术研究院
张育维
;
杨茆世芳
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财团法人工业技术研究院
财团法人工业技术研究院
杨茆世芳
;
马天彦
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机构:
财团法人工业技术研究院
财团法人工业技术研究院
马天彦
.
中国专利
:CN117804330A
,2024-04-02
[7]
晶圆薄膜量测装置及量测系统
[P].
李贤铭
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李贤铭
;
陈国庆
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陈国庆
.
中国专利
:CN209087771U
,2019-07-09
[8]
量测手套及量测系统
[P].
张家齐
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张家齐
;
萧子健
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萧子健
.
中国专利
:CN105455788A
,2016-04-06
[9]
量测系统与量测方法
[P].
张钰林
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张钰林
;
童凯炀
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童凯炀
;
林茂青
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林茂青
.
中国专利
:CN107966625A
,2018-04-27
[10]
量测系统
[P].
孙庆成
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孙庆成
;
余业纬
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余业纬
;
林廷玮
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林廷玮
;
林哲巨
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林哲巨
.
中国专利
:CN105277339B
,2016-01-27
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