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一种芯片测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201821525878.7
申请日：
2018-09-18
公开(公告)号：
CN209231442U
公开(公告)日：
2019-08-09
发明(设计)人：
尚跃
余夕霞
申请人：
申请人地址：
230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期G2楼A座1层
IPC主分类号：
G01R3102
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-08-09 | 授权 | 授权 |