对准误差的测试方法、调整方法、测试系统和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110336244.7

申请日：

2021-03-29

公开(公告)号：

CN113093482B

公开(公告)日：

2021-07-09

发明(设计)人：

骆晓东

申请人：

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G03F900

IPC分类号：

代理机构：

上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260

代理人：

成丽杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 9/00 申请日:20210329
2022-07-22	授权	授权
2021-07-09	公开	公开

共 50 条

[1]

测试系统、测试控制方法、测试方法和存储介质 [P].

陈江群 ;

廖秋桂 ;

曹兵 ;

李晓亮 ;

罗富贵 .

中国专利 :CN120104475A ,2025-06-06

[2]

测试系统、测试方法和测试系统用程序存储介质 [P].

道北俊行 ;

川添宽 ;

古川和树 ;

廣濑翼 ;

盐见健司 .

日本专利 :CN117693673A ,2024-03-12

[3]

芯片测试方法、测试设备、测试系统和存储介质 [P].

董莎莎 .

中国专利 :CN119881593A ,2025-04-25

[4]

测试系统、测试方法、控制设备和存储介质 [P].

刘均 ;

温鑫 .

中国专利 :CN110850269A ,2020-02-28

[5]

测试方法、测试系统及存储介质 [P].

薛喜柱 ;

林本聪 ;

刘兵 ;

张光力 ;

罗相诚 ;

李劲松 ;

洪晓城 ;

胡剑锋 ;

叶浩林 ;

麻亚翰 .

中国专利 :CN119643955A ,2025-03-18

[6]

测试系统、测试方法以及存储介质 [P].

蒋思龙 ;

张恒 .

中国专利 :CN118035011A ,2024-05-14

[7]

测试方法、测试系统及存储介质 [P].

薛喜柱 ;

林本聪 ;

刘兵 ;

张光力 ;

罗相诚 ;

李劲松 ;

洪晓城 ;

胡剑锋 ;

叶浩林 ;

麻亚翰 .

中国专利 :CN119643955B ,2025-05-09

[8]

测试方法和系统，及存储介质 [P].

黄友林 .

中国专利 :CN110514925A ,2019-11-29

[9]

测试系统、方法、装置和存储介质 [P].

赵旸 ;

王云嵩 ;

左永强 ;

李添琦 ;

史江通 ;

陈波 .

中国专利 :CN119827343A ,2025-04-15

[10]

测试系统、方法、装置和存储介质 [P].

赵旸 ;

左永强 ;

史江通 ;

陈波 .

中国专利 :CN120522468A ,2025-08-22

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