一种高效的集成电路芯片修调测试电路及测试方法

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申请号
CN202210738551.2
申请日
2022-06-28
公开(公告)号
CN114814556A
公开(公告)日
2022-07-29
发明(设计)人
不公告发明人
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市高新区科技城济慈路150号1幢
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250
代理人
陈刚
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试控制电路及方法、集成电路芯片测试电路 [P]. 
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修调电路、修调方法及集成电路芯片 [P]. 
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[6]
修调电路、修调方法及集成电路芯片 [P]. 
钟佳乐 ;
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梅丁蕾 ;
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基于GPIB协议的集成电路芯片测试方法、上位机及测试系统 [P]. 
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马锡春 ;
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一种用于测试集成电路的电路架构及集成电路测试方法 [P]. 
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集成电路芯片测试机 [P]. 
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