一种基于FPGA的射频标签测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610529684.3

申请日：

2016-07-07

公开(公告)号：

CN107589362A

公开(公告)日：

2018-01-16

发明(设计)人：

包玉华徐海军廖峰卢菊春龚永鑫

申请人：

申请人地址：

200000 上海市浦东新区自由贸易试验区亮秀路112号A座303-304室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海专尚知识产权代理事务所(普通合伙) 31305

代理人：

张政权;张露薇

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-25	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20180116
2018-02-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20160707
2018-01-16	公开	公开
2019-09-24	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G01R 31/28 登记生效日:20190904 变更事项:申请人变更前权利人:华大半导体有限公司变更后权利人:四川华大恒芯科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:200000 上海市浦东新区自由贸易试验区亮秀路112号A座303-304室变更后权利人:610015 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天府五街200号4号楼B座1至3楼

共 50 条

[1]

射频标签的测试装置 [P].

李顺昕 ;

袁瑞铭 ;

钟侃 ;

张威 ;

田海亭 ;

秦红磊 .

中国专利 :CN202513936U ,2012-10-31

[2]

一种射频标签的测试装置 [P].

程娟 .

中国专利 :CN112985485A ,2021-06-18

[3]

一种射频标签的测试装置 [P].

喻慕兴 .

中国专利 :CN215298235U ,2021-12-24

[4]

一种射频标签测试装置及系统 [P].

马治国 ;

吕根立 .

中国专利 :CN217278694U ,2022-08-23

[5]

一种射频识别标签生产测试装置 [P].

田川 .

中国专利 :CN222353883U ,2025-01-14

[6]

一种射频芯片的测试装置 [P].

刘峰 .

中国专利 :CN220508994U ,2024-02-20

[7]

一种基于FPGA的测试装置 [P].

闫冯军 ;

宋小弟 ;

李昂 ;

程小军 .

中国专利 :CN210181171U ,2020-03-24

[8]

一种基于FPGA的测试装置 [P].

陆放 .

中国专利 :CN114660435A ,2022-06-24

[9]

一种基于FPGA的测试装置 [P].

王泓淇 .

中国专利 :CN214669201U ,2021-11-09

[10]

一种基于FPGA的测试装置 [P].

陆放 .

中国专利 :CN104569780A ,2015-04-29

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