用于相位衬度成像和/或暗场成像的分析格栅

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780035137.2

申请日：

2017-06-08

公开(公告)号：

CN109478440A

公开(公告)日：

2019-03-15

发明(设计)人：

T·克勒 R·斯特德曼布克 M·西蒙 W·吕腾 H·K·维乔雷克

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

G21K102

IPC分类号：

G01T120

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

蔡洪贵

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-03-15	公开	公开
2019-07-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G21K 1/02 申请日:20170608

共 50 条

[1]

用于对可移动对象进行相位衬度和/或暗场成像的光栅设备 [P].

M·格拉斯 ;

D·舍费尔 ;

T·克勒 .

中国专利 :CN106456083A ,2017-02-22

[2]

用于相位衬度成像的检查和/或处理装置 [P].

C.恩格尔克 .

中国专利 :CN209332070U ,2019-09-03

[3]

用于相位对比和/或暗场成像的X射线探测器 [P].

R·普罗克绍 .

中国专利 :CN107850680A ,2018-03-27

[4]

用于相位衬度成像的旋转X射线装置 [P].

J·布雷多诺 .

中国专利 :CN101978257B ,2011-02-16

[5]

用于同时相位衬度成像和电子能量损失光谱法的系统和方法 [P].

I·拉吉克 ;

S·维斯普奇 ;

E·G·博世 ;

B·H·弗雷塔 .

中国专利 :CN114113686A ,2022-03-01

[6]

用于相位对比和暗场成像的运动伪影校正 [P].

T·克勒 ;

A·亚罗申科 ;

H-I·马克 ;

T·普拉洛 ;

B·伦特 .

:CN114746896B ,2025-11-07

[7]

用于相位对比和暗场成像的运动伪影校正 [P].

T·克勒 ;

A·亚罗申科 ;

H-I·马克 ;

T·普拉洛 ;

B·伦特 .

中国专利 :CN114746896A ,2022-07-12

[8]

差分相位衬度X射线成像中暗场信号的优化能量加权 [P].

T·克勒 ;

E·勒斯尔 ;

G·马滕斯 ;

H·德尔 .

中国专利 :CN106793986A ,2017-05-31

[9]

高衬度低剂量相位衬度CT成像装置 [P].

雷恒波 ;

孙明山 ;

杨晓冬 ;

曾维俊 ;

孙海旋 ;

王钟周 ;

王骏 ;

陆亚林 ;

田扬超 .

中国专利 :CN107748341A ,2018-03-02

[10]

高衬度低剂量相位衬度CT成像装置 [P].

雷恒波 ;

孙明山 ;

杨晓冬 ;

曾维俊 ;

孙海旋 ;

王钟周 ;

王骏 ;

陆亚林 ;

田扬超 .

中国专利 :CN207457480U ,2018-06-05

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