基于键合引线退化的IGBT模块可靠性评估方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010635550.6
申请日
2020-07-03
公开(公告)号
CN111856233B
公开(公告)日
2020-10-30
发明(设计)人
何怡刚 李猎 何鎏璐 王晨苑 时国龙
申请人
申请人地址
430072 湖北省武汉市武昌区八一路299号
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
代理机构
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102
代理人
张宇
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
键合引线的可靠性评估方法 [P]. 
章晓文 ;
韦拢 ;
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[2]
面向国产军用IGBT模块的可靠性评估方法 [P]. 
于迪 .
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[3]
高可靠性IGBT模块的封装结构 [P]. 
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王哲 ;
宁仁霞 ;
靖南 ;
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[4]
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[5]
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[6]
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[7]
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吴吉利 ;
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[8]
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李文钊 ;
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宋乾强 ;
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中国专利 :CN113806910A ,2021-12-17
[10]
基于产品信息的可靠性评估方法及评估装置 [P]. 
王国辉 ;
李文钊 ;
崔铁铮 ;
李彩霞 ;
宋乾强 ;
刘轻骑 ;
沈博 ;
尕永婧 .
中国专利 :CN113806910B ,2024-02-13