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键合引线的可靠性评估方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411660321.4
申请日
:
2024-11-20
公开(公告)号
:
CN119492980A
公开(公告)日
:
2025-02-21
发明(设计)人
:
章晓文
韦拢
林晓玲
申请人
:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请人地址
:
511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
代理机构
:
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
:
王园宁
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-02-21
公开
公开
2025-03-11
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241120
共 50 条
[1]
基于键合引线退化的IGBT模块可靠性评估方法及装置
[P].
何怡刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
何怡刚
;
李猎
论文数:
0
引用数:
0
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0
李猎
;
何鎏璐
论文数:
0
引用数:
0
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0
何鎏璐
;
王晨苑
论文数:
0
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0
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0
王晨苑
;
时国龙
论文数:
0
引用数:
0
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0
时国龙
.
中国专利
:CN111856233B
,2020-10-30
[2]
提高集成电路内引线键合可靠性的方法
[P].
卢生贵
论文数:
0
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0
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0
卢生贵
;
高福
论文数:
0
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0
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0
高福
;
周恒
论文数:
0
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0
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0
周恒
.
中国专利
:CN1716556A
,2006-01-04
[3]
提升金铝键合长期可靠性的方法
[P].
杨兵
论文数:
0
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0
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0
杨兵
;
张国华
论文数:
0
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0
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0
张国华
.
中国专利
:CN104409371A
,2015-03-11
[4]
MEMS可靠性评估方法
[P].
任艳
论文数:
0
引用数:
0
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0
任艳
.
中国专利
:CN104915558B
,2015-09-16
[5]
介质层可靠性评估方法和评估介质层可靠性的测试系统
[P].
胡健
论文数:
0
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0
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
胡健
;
唐伟
论文数:
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
唐伟
;
石晓
论文数:
0
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
石晓
;
熊阳
论文数:
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0
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
熊阳
.
中国专利
:CN116482215B
,2025-07-04
[6]
一种可靠性因子确定方法、可靠性评估方法和相关设备
[P].
南海卿
论文数:
0
引用数:
0
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0
南海卿
;
张晓强
论文数:
0
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0
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0
张晓强
.
中国专利
:CN113962175A
,2022-01-21
[7]
一种可靠性因子确定方法、可靠性评估方法和相关设备
[P].
南海卿
论文数:
0
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0
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0
机构:
海光信息技术股份有限公司
海光信息技术股份有限公司
南海卿
;
张晓强
论文数:
0
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0
机构:
海光信息技术股份有限公司
海光信息技术股份有限公司
张晓强
.
中国专利
:CN113962175B
,2025-07-22
[8]
发射飞行可靠性评估方法
[P].
张生鹏
论文数:
0
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0
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0
张生鹏
;
秦强
论文数:
0
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0
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秦强
;
翟疆
论文数:
0
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0
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0
翟疆
;
胡雨晴
论文数:
0
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0
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胡雨晴
.
中国专利
:CN110334319A
,2019-10-15
[9]
桥梁构件可靠性评估方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
王卫仑
;
张明阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳大学
深圳大学
张明阳
.
中国专利
:CN118150085A
,2024-06-07
[10]
基于非概率可靠性模型的可靠性评估方法、装置及系统
[P].
薛璐
论文数:
0
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0
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薛璐
;
郭宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭宇
.
中国专利
:CN115392021A
,2022-11-25
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