具有保护功能的半导体器件测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202021141177.0

申请日：

2020-06-18

公开(公告)号：

CN212965267U

公开(公告)日：

2021-04-13

发明(设计)人：

赵彪任春频曾嵘刘佳鹏陈政宇余占清

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华园1号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R136

代理机构：

北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11594

代理人：

张陆军

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-13	授权	授权

共 50 条

[1]

具有保护功能的半导体器件测试装置及方法 [P].

赵彪 ;

任春频 ;

曾嵘 ;

刘佳鹏 ;

陈政宇 ;

余占清 .

中国专利 :CN111766494B ,2020-10-13

[2]

半导体器件的测试装置 [P].

陈伟 ;

徐勇 ;

叶建国 ;

韩宙 ;

程华胜 ;

魏春阳 .

中国专利 :CN205786998U ,2016-12-07

[3]

半导体器件测试装置 [P].

杨浩 .

中国专利 :CN214795085U ,2021-11-19

[4]

半导体器件测试装置 [P].

吴胜 ;

王锋 ;

徐祁华 .

中国专利 :CN217766707U ,2022-11-08

[5]

用于半导体器件的测试装置 [P].

丘炜光 ;

陈新军 ;

谢景祺 ;

柏铭 .

中国专利 :CN223597818U ,2025-11-25

[6]

半导体器件性能测试装置 [P].

刘宝成 .

中国专利 :CN202159118U ,2012-03-07

[7]

一种半导体器件的测试装置 [P].

张霖芝 ;

田帅 .

中国专利 :CN221351661U ,2024-07-16

[8]

一种半导体器件的测试装置 [P].

昝佳琳 .

中国专利 :CN210862782U ,2020-06-26

[9]

半导体测试装置 [P].

王大伟 ;

侯克男 ;

刘建军 ;

董春阳 ;

侯树伟 ;

赵博 ;

唐薇 ;

王进燕 ;

李东霞 .

中国专利 :CN217506035U ,2022-09-27

[10]

半导体器件测试装置及半导体器件 [P].

伍俊炜 ;

李博强 ;

肖鹏 ;

陈大雄 .

中国专利 :CN222482367U ,2025-02-14

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