一种电弧等离子体特征的仿真分析方法和仿真分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110421377.4

申请日：

2021-04-20

公开(公告)号：

CN112989674A

公开(公告)日：

2021-06-18

发明(设计)人：

杨树峰赵梦静王勇刘威李京社

申请人：

申请人地址：

100083 北京市海淀区学院路30号

IPC主分类号：

G06F3023

IPC分类号：

G06F11110 G06F11908 G06F11914

代理机构：

北京格允知识产权代理有限公司 11609

代理人：

周娇娇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-18	公开	公开
2021-07-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/23 申请日:20210420
2021-08-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种模拟分析电弧等离子体的装置和方法 [P].

杨树峰 ;

赵梦静 ;

王勇 ;

刘威 ;

李京社 .

中国专利 :CN112528527A ,2021-03-19

[2]

等离子体分光分析方法和等离子体分光分析装置 [P].

白木裕章 ;

冈井均 .

中国专利 :CN105784675A ,2016-07-20

[3]

等离子体分光分析方法及等离子体分光分析装置 [P].

高须刚 .

中国专利 :CN107643279A ,2018-01-30

[4]

均匀磁场对等离子体减压效应的影响仿真分析方法 [P].

毛保全 ;

罗建华 ;

白向华 ;

杨雨迎 ;

刘宏祥 ;

李程 ;

兰图 ;

李晓刚 .

中国专利 :CN110377963A ,2019-10-25

[5]

等离子体处理装置、分析装置和分析程序 [P].

金子和史 ;

石田洋平 .

日本专利 :CN118844118A ,2024-10-25

[6]

一种SF6断路器触头开启过程电弧等离子体多物理场有限元仿真分析方法 [P].

张明吉 ;

李晓龙 ;

张云柯 ;

房立存 .

中国专利 :CN112507583A ,2021-03-16

[7]

等离子体分析装置、等离子体分析方法以及衬底处理设备 [P].

曺贤哲 ;

林佲俊 ;

金光燮 .

韩国专利 :CN120594508A ,2025-09-05

[8]

一种等离子体天线仿真方法及系统 [P].

魏相飞 ;

马云 ;

郝洪荣 ;

刘丹丹 ;

范传宇 .

中国专利 :CN107423483A ,2017-12-01

[9]

一种基于自学习网络架构的电弧等离子体仿真方法 [P].

仲林林 ;

王逸凡 .

中国专利 :CN120951835A ,2025-11-14

[10]

液冷系统仿真分析方法、仿真分析装置及仿真分析设备 [P].

郭佳 ;

李静 .

中国专利 :CN118468602A ,2024-08-09

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