芯片测试分选机

被引：0

申请号：

CN202230194819.1

申请日：

2022-04-08

公开(公告)号：

CN307511941S

公开(公告)日：

2022-08-23

发明(设计)人：

杨胜利史赛

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区港田路青丘街青丘巷8号

IPC主分类号：

1599

IPC分类号：

代理机构：

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-23	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试分选机 [P].

史赛 ;

杨胜利 .

中国专利 :CN307511942S ,2022-08-23

[2]

芯片测试分选机 [P].

陈健 ;

陆人杰 .

中国专利 :CN218079055U ,2022-12-20

[3]

芯片测试分选机 [P].

黄爱科 ;

金承标 ;

王跃 ;

李粹武 ;

周磊 .

中国专利 :CN217963636U ,2022-12-06

[4]

芯片测试分选机 [P].

李金龙 ;

吴后强 .

中国专利 :CN222637226U ,2025-03-18

[5]

芯片测试分选机（NEOCEED-W） [P].

李彦樟 ;

李兴宝 ;

陈钱 ;

刘帅领 .

中国专利 :CN309037065S ,2024-12-27

[6]

芯片测试分选机(SUMMIT-HCR) [P].

黄文中 ;

沈程 ;

彭煜 ;

卢壮壮 .

中国专利 :CN309499139S ,2025-09-16

[7]

芯片测试分选机(SUMMIT-H) [P].

黄文中 ;

沈程 ;

肖旭 ;

李磊 ;

李鑫 .

中国专利 :CN309499138S ,2025-09-16

[8]

芯片测试分选机（Exceed9800） [P].

吕克振 ;

侯景洋 ;

张胜春 ;

郭彪 .

中国专利 :CN309037064S ,2024-12-27

[9]

芯片测试分选机（9032Plus） [P].

贺怀珍 ;

郭义星 .

中国专利 :CN309004780S ,2024-12-13

[10]

芯片测试分选机（NEOCEED-Q） [P].

陈钱 ;

李兴宝 ;

李彦樟 ;

刘圆圆 .

中国专利 :CN309012921S ,2024-12-17

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