一种光学参数测量方法及装置

被引：0

申请号：

CN202211048208.1

申请日：

2022-08-30

公开(公告)号：

CN115389172A

公开(公告)日：

2022-11-25

发明(设计)人：

唐宝杰许孜奕陈朝阳

申请人：

申请人地址：

322103 浙江省金华市东阳市江北街道猴塘社区广福东街23号总部中心C幢东楼201室（自主申报）

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291

代理人：

刘亚威

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20220830
2022-11-25	公开	公开

共 50 条

[1]

光学参数测量方法及装置 [P].

梁洪涛 ;

张戎 ;

张厚道 ;

张云 ;

施耀明 .

中国专利 :CN114322762B ,2024-03-29

[2]

光学参数测量方法及装置 [P].

梁洪涛 ;

张戎 ;

张厚道 ;

张云 ;

施耀明 .

中国专利 :CN114322762A ,2022-04-12

[3]

光学参数测量装置和光学参数测量方法 [P].

刘世豪 .

中国专利 :CN120063484A ,2025-05-30

[4]

一种测量装置和光学参数测量方法 [P].

李潇 ;

朱建雄 ;

张韦韪 .

中国专利 :CN111678677B ,2020-09-18

[5]

一种光学参数测量装置及其测量方法 [P].

刘莹莹 ;

武震 ;

廖永俊 ;

李星 ;

马慧君 .

中国专利 :CN107576482B ,2018-01-12

[6]

光学特性建模方法及装置、光学参数测量方法 [P].

张晓雷 ;

张厚道 ;

梁洪涛 ;

施耀明 .

中国专利 :CN114963996B ,2025-02-14

[7]

一种样件光学参数测量方法及测量系统 [P].

刘亚鼎 ;

陶泽 ;

张云 ;

薛小汝 ;

徐威旺 ;

何勇 ;

王瑞 ;

杨成 ;

王瑾 .

中国专利 :CN117760978A ,2024-03-26

[8]

一种钻石光学参数测量方法 [P].

林畅伟 .

中国专利 :CN108931523A ,2018-12-04

[9]

一种介质薄膜光学参数的测量装置及测量方法 [P].

宋鹏宇 ;

谭龙 ;

袁恩杨 ;

周骏 .

中国专利 :CN103278455A ,2013-09-04

[10]

偏光片光学参数的测量方法及测量装置 [P].

海博 .

中国专利 :CN108181095A ,2018-06-19

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