偏光片光学参数的测量方法及测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711483432.2

申请日：

2017-12-29

公开(公告)号：

CN108181095A

公开(公告)日：

2018-06-19

发明(设计)人：

海博

申请人：

申请人地址：

516000 广东省惠州市仲恺高新技术产业开发区惠风四路78号TCL液晶产业园D栋一楼B区

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G02B530

代理机构：

深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304

代理人：

孙伟峰;武岑飞

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-27	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01M 11/02 申请公布日:20180619
2018-06-19	公开	公开
2018-07-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20171229

共 50 条

[1]

光学参数测量装置和光学参数测量方法 [P].

刘世豪 .

中国专利 :CN120063484A ,2025-05-30

[2]

光学测量方法及光学测量装置 [P].

K·克莱恩 ;

P·弗里兹 ;

A·安德森 .

中国专利 :CN112384751A ,2021-02-19

[3]

光学参数测量方法及装置 [P].

梁洪涛 ;

张戎 ;

张厚道 ;

张云 ;

施耀明 .

中国专利 :CN114322762B ,2024-03-29

[4]

光学参数测量方法及装置 [P].

梁洪涛 ;

张戎 ;

张厚道 ;

张云 ;

施耀明 .

中国专利 :CN114322762A ,2022-04-12

[5]

光学参数测量装置及静态消光比的测量方法 [P].

樊仲维 ;

孙海江 ;

王家赞 .

中国专利 :CN102338691A ,2012-02-01

[6]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

高堉墐 ;

刘朝辉 ;

郑伊凯 ;

王世昌 ;

王大祥 .

中国专利 :CN103792190B ,2014-05-14

[7]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

井上展幸 ;

田口都一 .

中国专利 :CN109163666A ,2019-01-08

[8]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

井上展幸 ;

田口都一 .

中国专利 :CN109405752B ,2019-03-01

[9]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

梶井阳介 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN112639392B ,2021-04-09

[10]

光学测量方法及光学测量装置 [P].

松村淳一 ;

大久保宪治 .

中国专利 :CN1721841A ,2006-01-18

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