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二次谐波表征方法、基于其的表征光学系统及检测装置
被引:0
申请号
:
CN202210249154.9
申请日
:
2022-03-14
公开(公告)号
:
CN114577726A
公开(公告)日
:
2022-06-03
发明(设计)人
:
王然
李博
王磊
张喆
张昆鹏
赵泓达
岳嵩
张学文
张紫辰
申请人
:
申请人地址
:
100029 北京市朝阳区北土城西路3号
IPC主分类号
:
G01N2101
IPC分类号
:
G01N2188
G01N2195
代理机构
:
北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667
代理人
:
赵永刚
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-06-03
公开
公开
2022-06-21
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/01 申请日:20220314
共 50 条
[1]
二次谐波表征方法、基于其的表征光学系统及检测装置
[P].
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王然
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李博
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赵泓达
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中国科学院微电子研究所
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张紫辰
.
中国专利
:CN114577726B
,2025-09-02
[2]
二次谐波表征光学系统及基于二次谐波表征的检测装置
[P].
王然
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张紫辰
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中国专利
:CN114577727A
,2022-06-03
[3]
二次谐波表征光学系统及基于二次谐波表征的检测装置
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赵泓达
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中国科学院微电子研究所
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:CN114577727B
,2025-03-21
[4]
二次谐波表征光学系统和基于二次谐波表征的检测装置
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张紫辰
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中国专利
:CN114577728A
,2022-06-03
[5]
二次谐波表征光学系统和基于二次谐波表征的检测装置
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:CN114577729B
,2024-09-20
[6]
二次谐波表征光学系统和基于二次谐波表征的检测装置
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王然
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张紫辰
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中国专利
:CN114577729A
,2022-06-03
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二次谐波表征光学系统和基于二次谐波表征的检测装置
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张紫辰
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中国专利
:CN114577725A
,2022-06-03
[8]
基于二次谐波的表征设备
[P].
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李博
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赵泓达
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中国科学院微电子研究所
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张紫辰
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中国专利
:CN118039515A
,2024-05-14
[9]
光学系统的表征
[P].
克劳斯·埃尔曼
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克劳斯·埃尔曼
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亚瑟·霍
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亚瑟·霍
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中国专利
:CN101646382A
,2010-02-10
[10]
基于二次谐波的表征设备
[P].
赵泓达
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
赵泓达
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,2024-05-14
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