一种硬盘测试夹具结构

被引：0

申请号：

CN202222892321.X

申请日：

2022-10-31

公开(公告)号：

CN218472452U

公开(公告)日：

2023-02-10

发明(设计)人：

刘小金张超詹建平

申请人：

申请人地址：

610000 四川省成都市成都高新区西芯大道3号5栋4层402号

IPC主分类号：

H01R13639

IPC分类号：

G11C2956

代理机构：

深圳市精英专利事务所 44242

代理人：

周永敬

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种硬盘测试夹具结构 [P].

黄梓泓 ;

钟桂平 ;

蓝钊 .

中国专利 :CN222345380U ,2025-01-14

[2]

芯片测试夹具结构改良 [P].

朱旭昱 .

中国专利 :CN201096803Y ,2008-08-06

[3]

一种振动测试夹具结构 [P].

靳刚 ;

李占杰 ;

崔良玉 ;

黄旭栋 ;

韩建鑫 ;

胡高峰 ;

霍文国 .

中国专利 :CN211717737U ,2020-10-20

[4]

一种拉力测试夹具结构 [P].

戴祥 .

中国专利 :CN221883293U ,2024-10-22

[5]

一种衬套测试夹具结构 [P].

王敦宝 ;

牛浩 .

中国专利 :CN217966709U ,2022-12-06

[6]

一种密封测试夹具结构 [P].

何西山 ;

何西江 .

中国专利 :CN220690349U ,2024-03-29

[7]

一种集成硬盘测试夹具 [P].

聂贻孝 .

中国专利 :CN201146035Y ,2008-11-05

[8]

一种平衡下压测试夹具结构 [P].

张赐勇 .

中国专利 :CN205562594U ,2016-09-07

[9]

一种端子测试用夹具结构 [P].

宋璐 ;

李建华 .

中国专利 :CN208751842U ,2019-04-16

[10]

一种发热芯片测试夹具结构 [P].

侯飞 ;

黄萍 .

中国专利 :CN118226093A ,2024-06-21

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