测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110088917.1

申请日：

2021-01-22

公开(公告)号：

CN112765029A

公开(公告)日：

2021-05-07

发明(设计)人：

李辉魏广源高蕊冷炜

申请人：

申请人地址：

100020 北京市朝阳区光华路10号1号楼中信大厦20层

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06F1627 G06F1628

代理机构：

北京市兰台律师事务所 11354

代理人：

张峰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-05-25	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20210122
2021-05-07	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

李辉 ;

魏广源 ;

高蕊 ;

冷炜 .

中国专利 :CN112765029B ,2025-08-08

[2]

测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

李辉 ;

魏广源 ;

高蕊 ;

冷炜 .

中国专利 :CN112765030B ,2025-07-22

[3]

测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

李辉 ;

魏广源 ;

高蕊 ;

冷炜 .

中国专利 :CN112765030A ,2021-05-07

[4]

页面测试方法及装置、计算机存储介质、电子设备 [P].

刘培培 ;

胡骏 ;

辛培灵 .

中国专利 :CN117389904A ,2024-01-12

[5]

对比测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

黄赞群 ;

胡奕涵 ;

喻昱 ;

聂清阳 ;

蒋灿 .

中国专利 :CN118193393A ,2024-06-14

[6]

终端测试方法及装置、计算机存储介质、电子设备 [P].

杜兴文 ;

鲁顺 ;

仉云龙 ;

魏东辉 ;

冯微 ;

沈宝桓 ;

王海林 .

中国专利 :CN113220562A ,2021-08-06

[7]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

何小龙 ;

吴智明 ;

王浩 ;

何燕飞 ;

林顺 .

中国专利 :CN113656289A ,2021-11-16

[8]

测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

张卉 ;

李晨 ;

张丹 ;

李星辰 .

中国专利 :CN117687926A ,2024-03-12

[9]

设备测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

伊尹 .

中国专利 :CN117409763A ,2024-01-16

[10]

测试任务执行方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

韩竞竞 ;

李欣 ;

龙慧 ;

陈琦 .

中国专利 :CN109308257A ,2019-02-05

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