设备测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202310493554.9
申请日
2023-05-04
公开(公告)号
CN117409763A
公开(公告)日
2024-01-16
发明(设计)人
伊尹
申请人
深圳TCL新技术有限公司
申请人地址
518052 广东省深圳市南山区西丽街道中山园路1001号国际E城D4栋9楼
IPC主分类号
G10L15/01
IPC分类号
代理机构
深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570
代理人
陈楚芳
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
亮度测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
杨振升 .
中国专利 :CN117412025A ,2024-01-16
[2]
设备测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
汪洋 ;
涂少雄 ;
温小松 ;
解梦星 ;
安志忠 .
中国专利 :CN120994480A ,2025-11-21
[3]
RDMA测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
沈克胜 .
中国专利 :CN117389813A ,2024-01-12
[4]
RDMA测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
沈克胜 .
中国专利 :CN117389813B ,2024-08-02
[5]
AB测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
黄金 ;
武洋 ;
张洪龙 .
中国专利 :CN113626336A ,2021-11-09
[6]
测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
李辉 ;
魏广源 ;
高蕊 ;
冷炜 .
中国专利 :CN112765029A ,2021-05-07
[7]
测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
张卉 ;
李晨 ;
张丹 ;
李星辰 .
中国专利 :CN117687926A ,2024-03-12
[8]
测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
李辉 ;
魏广源 ;
高蕊 ;
冷炜 .
中国专利 :CN112765029B ,2025-08-08
[9]
测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
李辉 ;
魏广源 ;
高蕊 ;
冷炜 .
中国专利 :CN112765030B ,2025-07-22
[10]
测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
李辉 ;
魏广源 ;
高蕊 ;
冷炜 .
中国专利 :CN112765030A ,2021-05-07