共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种射频测试探针结构以及射频测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111278519.2
申请日：
2021-10-30
公开(公告)号：
CN114217101A
公开(公告)日：
2022-03-22
发明(设计)人：
刘东平
翟巍
江成
申请人：
申请人地址：
518040 广东省深圳市福田区香蜜湖街道东海社区红荔西路8089号深业中城6号楼A单元3401
IPC主分类号：
G01R1067
IPC分类号：
G01R1073
G01R3128
代理机构：
北京中博世达专利商标代理有限公司 11274
代理人：
申健
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-03-22 | 公开 | 公开 |
| 2022-04-08 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/067 申请日:20211030 |