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射频测试探针装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411545639.8
申请日：
2024-10-31
公开(公告)号：
CN119414056A
公开(公告)日：
2025-02-11
发明(设计)人：
窦义粮 马向阳
申请人：
昆山德普福电子科技有限公司
申请人地址：
215300 江苏省苏州市玉山镇紫竹路699号保利大厦8号楼1106室
IPC主分类号：
G01R1/067
IPC分类号：
代理机构：
苏州佳博知识产权代理事务所(普通合伙) 32342
代理人：
申晓慧
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-02-28 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/067申请日:20241031
2025-02-11 公开 公开
共 50 条
[1]
射频测试探针 [P]. 
计亚斌 ;
廖辉煌 ;
杨云超 ;
张凇楠 .
中国专利 :CN222719667U ,2025-04-04
[2]
射频测试探针 [P]. 
计亚斌 ;
廖辉煌 ;
杨云超 ;
张凇楠 .
中国专利 :CN118348395A ,2024-07-16
[3]
射频测试座及测试探针 [P]. 
郭钜添 .
中国专利 :CN106662612B ,2017-05-10
[4]
射频测试探针结构和射频测试系统 [P]. 
吕双 ;
翟巍 ;
邹广福 ;
杨欢 .
中国专利 :CN119716174A ,2025-03-28
[5]
射频测试探针结构和射频测试系统 [P]. 
吕双 ;
翟巍 ;
邹广福 ;
杨欢 .
中国专利 :CN119716174B ,2025-08-01
[6]
一种射频测试探针 [P]. 
王国华 ;
唐怀东 .
中国专利 :CN220773145U ,2024-04-12
[7]
测试探针 [P]. 
徐波 ;
陈建明 .
中国专利 :CN308657336S ,2024-05-28
[8]
测试探针 [P]. 
刘海燕 .
中国专利 :CN307705019S ,2022-12-02
[9]
测试探针 [P]. 
徐波 ;
陈建明 .
中国专利 :CN308636201S ,2024-05-14
[10]
测试探针 [P]. 
徐波 ;
陈建明 .
中国专利 :CN308636202S ,2024-05-14
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