一种红外指纹芯片测试机构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121149938.1

申请日：

2021-05-26

公开(公告)号：

CN215415746U

公开(公告)日：

2022-01-04

发明(设计)人：

连晓奎

申请人：

申请人地址：

215331 江苏省苏州市昆山市花桥镇花安路169号935室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R102 G01R104

代理机构：

上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297

代理人：

夏梦恬

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-04	授权	授权

共 50 条

[1]

一种红外指纹芯片测试机构 [P].

张辉 .

中国专利 :CN207249684U ,2018-04-17

[2]

一种红外指纹芯片测试机构 [P].

陈玲 .

中国专利 :CN208367161U ,2019-01-11

[3]

指纹芯片测试机构及指纹芯片测试装置 [P].

刘活 ;

韦敏荣 ;

孔晓琳 ;

王健 ;

刘伟 ;

李安平 .

中国专利 :CN218003644U ,2022-12-09

[4]

一种芯片测试机的插拔机构及芯片测试机 [P].

张爱林 .

中国专利 :CN223107976U ,2025-07-15

[5]

指纹传感器芯片测试机构 [P].

李英才 .

中国专利 :CN212781114U ,2021-03-23

[6]

一种芯片测试设备的测试机构 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01

[7]

一种芯片测试机构 [P].

吴学军 ;

蒋卫兵 .

中国专利 :CN118091372A ,2024-05-28

[8]

一种芯片测试机构 [P].

庄渊胜 ;

蔡江梁 ;

王强 .

中国专利 :CN213122195U ,2021-05-04

[9]

一种芯片测试机旋转机构 [P].

李维繁星 .

中国专利 :CN218298296U ,2023-01-13

[10]

一种自动标记坏点的芯片测试机 [P].

甘性会 .

中国专利 :CN215375481U ,2021-12-31

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