一种自动标记坏点的芯片测试机

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专利类型
实用新型
申请号
CN202121152358.8
申请日
2021-05-26
公开(公告)号
CN215375481U
公开(公告)日
2021-12-31
发明(设计)人
甘性会
申请人
申请人地址
518100 广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区71区万源商务大厦B栋708
IPC主分类号
G01R102
IPC分类号
G01R104 G01R3128
代理机构
上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297
代理人
胡旭孟
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
柯武生 .
中国专利 :CN209513984U ,2019-10-18
[2]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
李永刚 ;
李佳慧 .
中国专利 :CN217521311U ,2022-09-30
[3]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
张会战 ;
袁刚 .
中国专利 :CN206270458U ,2017-06-20
[4]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
李娜 .
中国专利 :CN214585863U ,2021-11-02
[5]
一种具有标记坏点结构的芯片测试机 [P]. 
许根泉 ;
胥怡心 ;
刘涛 ;
郭旭斌 .
中国专利 :CN217181138U ,2022-08-12
[6]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
刘增红 ;
常浩 .
中国专利 :CN115646862A ,2023-01-31
[7]
一种芯片测试机的坏点标记机构 [P]. 
许元君 ;
陈英明 .
中国专利 :CN222710085U ,2025-04-04
[8]
一种红外指纹芯片测试机构 [P]. 
连晓奎 .
中国专利 :CN215415746U ,2022-01-04
[9]
一种芯片测试机的插拔机构及芯片测试机 [P]. 
张爱林 .
中国专利 :CN223107976U ,2025-07-15
[10]
一种芯片测试机及其芯片降温装置 [P]. 
彭细明 .
中国专利 :CN222545453U ,2025-02-28