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一种自动标记坏点的芯片测试机
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202121152358.8
申请日
:
2021-05-26
公开(公告)号
:
CN215375481U
公开(公告)日
:
2021-12-31
发明(设计)人
:
甘性会
申请人
:
申请人地址
:
518100 广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区71区万源商务大厦B栋708
IPC主分类号
:
G01R102
IPC分类号
:
G01R104
G01R3128
代理机构
:
上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297
代理人
:
胡旭孟
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-31
授权
授权
共 50 条
[1]
一种自动标记坏点的芯片测试机
[P].
柯武生
论文数:
0
引用数:
0
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0
柯武生
.
中国专利
:CN209513984U
,2019-10-18
[2]
一种自动标记坏点的芯片测试机
[P].
李永刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
李永刚
;
李佳慧
论文数:
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0
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0
李佳慧
.
中国专利
:CN217521311U
,2022-09-30
[3]
一种自动标记坏点的芯片测试机
[P].
张会战
论文数:
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0
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0
张会战
;
袁刚
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0
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0
袁刚
.
中国专利
:CN206270458U
,2017-06-20
[4]
一种自动标记坏点的芯片测试机
[P].
李娜
论文数:
0
引用数:
0
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0
李娜
.
中国专利
:CN214585863U
,2021-11-02
[5]
一种具有标记坏点结构的芯片测试机
[P].
许根泉
论文数:
0
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0
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许根泉
;
胥怡心
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胥怡心
;
刘涛
论文数:
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刘涛
;
郭旭斌
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0
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0
郭旭斌
.
中国专利
:CN217181138U
,2022-08-12
[6]
一种自动标记坏点的芯片测试机
[P].
刘增红
论文数:
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刘增红
;
常浩
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0
常浩
.
中国专利
:CN115646862A
,2023-01-31
[7]
一种芯片测试机的坏点标记机构
[P].
许元君
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机构:
苏州锜庆精密电子有限公司
苏州锜庆精密电子有限公司
许元君
;
陈英明
论文数:
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引用数:
0
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机构:
苏州锜庆精密电子有限公司
苏州锜庆精密电子有限公司
陈英明
.
中国专利
:CN222710085U
,2025-04-04
[8]
一种红外指纹芯片测试机构
[P].
连晓奎
论文数:
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引用数:
0
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连晓奎
.
中国专利
:CN215415746U
,2022-01-04
[9]
一种芯片测试机的插拔机构及芯片测试机
[P].
张爱林
论文数:
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引用数:
0
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0
机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
张爱林
.
中国专利
:CN223107976U
,2025-07-15
[10]
一种芯片测试机及其芯片降温装置
[P].
彭细明
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市禾盛精密电子有限公司
深圳市禾盛精密电子有限公司
彭细明
.
中国专利
:CN222545453U
,2025-02-28
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