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一种自动标记坏点的芯片测试机

被引：0
申请号：
CN202211680759.X
申请日：
2022-12-27
公开(公告)号：
CN115646862A
公开(公告)日：
2023-01-31
发明(设计)人：
刘增红 常浩
申请人：
申请人地址：
212000 江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座高新大厦
IPC主分类号：
B07C5344
IPC分类号：
B07C502 B07C536 B41J3407 B41J344 B41J1100
代理机构：
北京康达联禾知识产权代理事务所(普通合伙) 11461
代理人：
张冉舒
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2023-01-31 公开 公开
2023-02-17 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/344 申请日:20221227
共 50 条
[1]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
李永刚 ;
李佳慧 .
中国专利 :CN217521311U ,2022-09-30
[2]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
甘性会 .
中国专利 :CN215375481U ,2021-12-31
[3]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
张会战 ;
袁刚 .
中国专利 :CN206270458U ,2017-06-20
[4]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
柯武生 .
中国专利 :CN209513984U ,2019-10-18
[5]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
李娜 .
中国专利 :CN214585863U ,2021-11-02
[6]
一种芯片测试机的坏点标记机构 [P]. 
许元君 ;
陈英明 .
中国专利 :CN222710085U ,2025-04-04
[7]
一种具有标记坏点结构的芯片测试机 [P]. 
许根泉 ;
胥怡心 ;
刘涛 ;
郭旭斌 .
中国专利 :CN217181138U ,2022-08-12
[8]
一种自动标记坏点的芯片测试装置及测试方法 [P]. 
黄海林 ;
黄静 ;
郑卫华 ;
何慧颖 ;
王理想 .
中国专利 :CN114295730B ,2022-04-08
[9]
一种自动芯片测试机 [P]. 
魏亨儒 .
中国专利 :CN211700197U ,2020-10-16
[10]
一种芯片测试机及其芯片降温装置 [P]. 
彭细明 .
中国专利 :CN222545453U ,2025-02-28
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