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一种具有标记坏点结构的芯片测试机

被引：0
申请号：
CN202220456247.4
申请日：
2022-03-04
公开(公告)号：
CN217181138U
公开(公告)日：
2022-08-12
发明(设计)人：
许根泉 胥怡心 刘涛 郭旭斌
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市高新区邓尉路105号狮山科技馆905室
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104 B41J201 B41J2175 B41J3407
代理机构：
成都东唐智宏专利代理事务所(普通合伙) 51261
代理人：
罗言刚
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-12 授权 授权
共 50 条
[1]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
甘性会 .
中国专利 :CN215375481U ,2021-12-31
[2]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
李永刚 ;
李佳慧 .
中国专利 :CN217521311U ,2022-09-30
[3]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
柯武生 .
中国专利 :CN209513984U ,2019-10-18
[4]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
李娜 .
中国专利 :CN214585863U ,2021-11-02
[5]
一种芯片测试机的坏点标记机构 [P]. 
许元君 ;
陈英明 .
中国专利 :CN222710085U ,2025-04-04
[6]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
张会战 ;
袁刚 .
中国专利 :CN206270458U ,2017-06-20
[7]
一种自动标记坏点的芯片测试机 [P]. 
刘增红 ;
常浩 .
中国专利 :CN115646862A ,2023-01-31
[8]
一种带有标记功能的芯片测试机 [P]. 
赵志权 .
中国专利 :CN218497087U ,2023-02-17
[9]
一种测试机胶料硬度用具有检测结构的硬度测试机 [P]. 
张彩 .
中国专利 :CN214952779U ,2021-11-30
[10]
一种红外指纹芯片测试机构 [P]. 
连晓奎 .
中国专利 :CN215415746U ,2022-01-04
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