共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种自动标记坏点的芯片测试机
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201822129703.0
申请日：
2018-12-19
公开(公告)号：
CN209513984U
公开(公告)日：
2019-10-18
发明(设计)人：
柯武生
申请人：
申请人地址：
530007 广西壮族自治区南宁市高新区高科路9号南宁东盟企业总部基地三期6号厂房
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-10-18 | 授权 | 授权 |