一种自动标记坏点的芯片测试机

被引：0

申请号：

CN202211680759.X

申请日：

2022-12-27

公开(公告)号：

CN115646862A

公开(公告)日：

2023-01-31

发明(设计)人：

刘增红常浩

申请人：

申请人地址：

212000 江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座高新大厦

IPC主分类号：

B07C5344

IPC分类号：

B07C502 B07C536 B41J3407 B41J344 B41J1100

代理机构：

北京康达联禾知识产权代理事务所(普通合伙) 11461

代理人：

张冉舒

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-31	公开	公开
2023-02-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/344 申请日:20221227

共 50 条

[41]

一种集成电路芯片测试机 [P].

柯武生 ;

翁国权 ;

王汉波 ;

郭军 .

中国专利 :CN215641679U ,2022-01-25

[42]

一种芯片测试设备的测试机构 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01

[43]

一种智能卡芯片测试机 [P].

舒世云 .

中国专利 :CN218099291U ,2022-12-20

[44]

一种红外指纹芯片测试机构 [P].

连晓奎 .

中国专利 :CN215415746U ,2022-01-04

[45]

一种高可靠度自动芯片测试机 [P].

沈永灿 ;

刘盛美 .

中国专利 :CN209486244U ,2019-10-11

[46]

一种芯片测试机构 [P].

吴学军 ;

蒋卫兵 .

中国专利 :CN118091372A ,2024-05-28

[47]

一种芯片烧录测试机 [P].

吴峰 ;

鲁晓军 ;

杨文峰 .

中国专利 :CN118348391A ,2024-07-16

[48]

一种手动芯片测试机 [P].

罗德刚 .

中国专利 :CN201707423U ,2011-01-12

[49]

一种闪存芯片测试机 [P].

王玉伟 ;

邹小玲 ;

孙丹归 ;

郑双桥 .

中国专利 :CN220691719U ,2024-03-29

[50]

一种芯片烧录测试机 [P].

董继承 ;

邱志良 .

中国专利 :CN216619034U ,2022-05-27

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