OLED新型显示器件表面缺陷检测模型的构建方法及其应用

被引：0

申请号：

CN202211287562.X

申请日：

2022-10-20

公开(公告)号：

CN115619743A

公开(公告)日：

2023-01-17

发明(设计)人：

杨华何源尹周平陈建魁

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T7194 G06V1080 G06V1082

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

尹丽媛

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20221020
2023-01-17	公开	公开

共 50 条

[1]

OLED新型显示器件表面缺陷检测模型的构建方法及其应用 [P].

杨华 ;

何源 ;

尹周平 ;

陈建魁 .

中国专利 :CN115619743B ,2025-10-31

[2]

显示器件的缺陷检测方法及显示器件的缺陷检测装置 [P].

奈良圭 ;

浜田智秀 .

中国专利 :CN101861516A ,2010-10-13

[3]

显示器件的缺陷检测方法及显示器件的缺陷检测装置 [P].

奈良圭 ;

浜田智秀 .

中国专利 :CN103499588B ,2014-01-08

[4]

一种纹理表面缺陷检测模型的构建方法及其应用 [P].

杨华 ;

尹周平 ;

胡家乐 ;

何大伟 .

中国专利 :CN114972216B ,2024-09-06

[5]

OLED显示器件的像素结构及其制备方法、OLED显示器件 [P].

闫光 .

中国专利 :CN106206968B ,2016-12-07

[6]

一种表面缺陷检测模型的构建方法及其应用 [P].

李斌 ;

李威风 ;

唐立新 ;

牛通之 ;

张泽丰 ;

邱园红 .

中国专利 :CN114332047B ,2024-09-06

[7]

一种表面缺陷检测模型的构建方法及其应用 [P].

李斌 ;

李威风 ;

唐立新 ;

牛通之 ;

张泽丰 ;

邱园红 .

中国专利 :CN114332047A ,2022-04-12

[8]

OLED显示器件及其制备方法 [P].

杨茜茜 ;

周思思 .

中国专利 :CN107026186A ,2017-08-08

[9]

一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法 [P].

孙浩 ;

李牧词 ;

茆胜 .

中国专利 :CN112595726A ,2021-04-02

[10]

一种PCB表面微小缺陷检测模型的构建方法及其应用与设备 [P].

李新宇 ;

缪其乐 ;

王浩 ;

陈德璋 ;

高艺平 .

中国专利 :CN120580199A ,2025-09-02

← 1 2 3 4 5 →