一种表面缺陷检测模型的构建方法及其应用

被引：0

申请号：

CN202111666451.5

申请日：

2021-12-31

公开(公告)号：

CN114332047A

公开(公告)日：

2022-04-12

发明(设计)人：

李斌李威风唐立新牛通之张泽丰邱园红

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06N304 G06K962 G06V10774 G06V10771

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

尹丽媛;李智

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-12	公开	公开
2022-04-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20211231

共 50 条

[1]

一种表面缺陷检测模型的构建方法及其应用 [P].

李斌 ;

李威风 ;

唐立新 ;

牛通之 ;

张泽丰 ;

邱园红 .

中国专利 :CN114332047B ,2024-09-06

[2]

一种纹理表面缺陷检测模型的构建方法及其应用 [P].

杨华 ;

尹周平 ;

胡家乐 ;

何大伟 .

中国专利 :CN114972216B ,2024-09-06

[3]

一种PCB表面微小缺陷检测模型的构建方法及其应用与设备 [P].

李新宇 ;

缪其乐 ;

王浩 ;

陈德璋 ;

高艺平 .

中国专利 :CN120580199A ,2025-09-02

[4]

一种基于触觉反馈的表面缺陷检测模型及其构建方法、检测方法 [P].

李新宇 ;

喜泽瑞 ;

高亮 ;

高艺平 .

中国专利 :CN120449002A ,2025-08-08

[5]

OLED新型显示器件表面缺陷检测模型的构建方法及其应用 [P].

杨华 ;

何源 ;

尹周平 ;

陈建魁 .

中国专利 :CN115619743A ,2023-01-17

[6]

OLED新型显示器件表面缺陷检测模型的构建方法及其应用 [P].

杨华 ;

何源 ;

尹周平 ;

陈建魁 .

中国专利 :CN115619743B ,2025-10-31

[7]

一种基于RecTransformer的表面缺陷检测模型的构建方法 [P].

杨华 ;

朱钦淼 ;

尹周平 ;

常靖昀 ;

陈建魁 .

中国专利 :CN115578358A ,2023-01-06

[8]

一种基于RecTransformer的表面缺陷检测模型的构建方法 [P].

杨华 ;

朱钦淼 ;

尹周平 ;

常靖昀 ;

陈建魁 .

中国专利 :CN115578358B ,2025-09-19

[9]

表面缺陷检测模型训练方法、表面缺陷检测方法及系统 [P].

高红超 ;

卢盛林 .

中国专利 :CN113222950A ,2021-08-06

[10]

一种燃料球表面缺陷检测模型构建、检测方法及装置 [P].

王红军 ;

赵佳龙 ;

马贝 ;

李世杰 ;

岳鑫 ;

刘丙才 ;

朱学亮 ;

田爱玲 ;

余文良 .

中国专利 :CN120725985A ,2025-09-30

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